Mikwoskòp dwat oswa mikwoskòp Envèse?
Anvan ou reponn kesyon sa a, li nesesè pou klarifye diferans ki genyen ant mikwoskòp dwat ak mikwoskòp envèse.
Mikwoskòp metalografik, ke yo rele tou mikwoskòp materyèl, yo sitou itilize yo obsève mikwostrikti metal yo. Yo ka divize an mikwoskòp metalografi dwat ak mikwoskòp metalografi envèse.
Yon mikwoskòp metalografik dwat fòme yon imaj pandan obsèvasyon, ki pote gwo konvenyans pou itilizatè yo wè ak distenge. Eksepte pou espesimèn ki gen yon wotè ki pi gran pase 20-30 mm, li konfòm ak abitid obsèvasyon nòmal moun yo. Se poutèt sa, li lajman itilize pou obsève sibstans transparan, translusid oswa opak, ak objektif obsèvasyon ki sòti nan 3 mikron a 20 mikron, tankou metal, seramik, chips elektwonik, sikui enprime, LCD substrats, fim mens, fib, echantiyon patikil, kouch ak estrikti sifas materyèl. Tras yo ka byen konsève ak estoke. Anplis de sa, sistèm D 'sipò a ka konekte nan yon òdinatè pou pran tou de imaj estatik ak dinamik. Li ka ekipe ak divès kalite lojisyèl pou satisfè bezwen plis pwofesyonèl nan metalografi, mezi, ansèyman ak rechèch syantifik. Mikwoskòp metalografik Envèse a sèvi ak metòd imaj optik pou idantifye ak analize estrikti divès kalite metal ak alyaj. Li se yon zouti enpòtan pou rechèch metaliji fizik. Li se lajman ki itilize nan faktori ak laboratwa pou Distribisyon enspeksyon, enspeksyon matyè premyè, ak analiz estriktirèl nan materyèl metal apre tretman chalè, konsa tankou bay rezilta analiz entwisyon. Li se ekipman kle pou idantifikasyon bon jan kalite nan pwosesis depoze, fusion ak tretman chalè nan min, metaliji, manifakti ak endistri pwosesis machin. Nan dènye ane yo, endistri elektwonik la bezwen espesimèn plat gwo agrandisman pou sipòte pwodiksyon chip. Pou rezon sa a, mikwoskòp metalografi envèse yo te prezante nan jaden sa a epi yo kontinyèlman modènize pou satisfè kondisyon enspeksyon espesyal endistri a. Diferan de kalite Envèse a, sifas obsèvasyon echantiyon an sou yon mikwoskòp metalografik dwat fè fas a anba epi li mete sou sèn nan echantiyon, pandan y ap lantiy objektif la sitiye anba etap la pou obsèvasyon anlè. Fòm sa a pa limite pa wotè echantiyon, li ofri operasyon pratik, estrikti kontra enfòmèl ant ak aparans atire. Baz mikwoskòp metalografi envèse a gen yon gwo zòn sipò ak sant gravite ki ba pou operasyon ki estab. Tib la oculaire enkline nan 45 degre parapò ak sifas sipò a pou gade konfòtab.
