Prensip yo ak estrikti nan mikwoskòp sond optik
Prensip debaz k ap travay nan yon mikwoskòp pwofonde optik se sèvi ak entèraksyon ki genyen ant sond la ak molekil atomik yo sou sifas echantiyon an, se sa ki, jaden fizik ki fòme pa divès kalite entèraksyon lè pwofonde ak sifas echantiyon an apwoche nanoskal la, epi jwenn mòfoloji sifas echantiyon an lè yo detekte kantite fizik ki koresponn lan. Mikwoskòp sondaj la konsiste de senk pati: sond, eskanè, Capteur deplasman, kontwolè, sistèm deteksyon, ak sistèm D.
Kontwolè a sèvi ak yon eskanè pou deplase echantiyon an nan yon direksyon vètikal pou estabilize distans (oswa kantite fizik entèraksyon) ant pwofonde a ak echantiyon an nan yon valè fiks; Ansanm deplase echantiyon an nan plan orizontal x-y pou sond la analize sifas echantiyon an sou chemen eskanè a. Mikwoskòp pwofonde eskanè detekte siyal kantite fizik ki enpòtan nan entèraksyon ki genyen ant pwofonde a ak echantiyon an nan sistèm deteksyon an, pandan y ap kenbe yon distans ki estab ant pwofonde a ak echantiyon an; Nan ka entèraksyon ki estab nan kantite fizik, distans ki genyen ant sond la ak echantiyon an detekte pa yon Capteur deplasman nan direksyon vètikal la. Sistèm D 'fè pwosesis imaj sou sifas echantiyon an ki baze sou siyal la deteksyon (oswa distans ki genyen ant pwofonde a ak echantiyon an).
Mikwoskòp ankèt analiz yo divize an diferan seri mikwoskòp ki baze sou diferan domèn fizik entèraksyon ant sond yo itilize ak echantiyon an. Scanning tunneling microscope (STM) ak mikwoskòp fòs atomik (AFM) se de kalite mikwoskòp pwofonde optik. Mikwoskòp tinèl eskanè detekte estrikti sifas yon echantiyon lè li mezire grandè aktyèl tinèl ant pwofonde a ak echantiyon yo te teste a. Mikwoskopi fòs atomik itilize yon Capteur deplasman foto-elektrik pou detekte deformation mikwo cantilever ki te koze pa fòs entèraksyon ant pwent zegwi a ak echantiyon an (ki ka swa atire oswa repouse) pou detekte sifas echantiyon an.
