Diferans ki genyen ant mikwoskòp metalografik ak mikwoskòp elektwonik optik
Yon mikwoskòp metalografik se yon mikwoskòp optik ki sèvi ak yon aparèy ekleraj sortan pou obsève sifas (konpozisyon alyaj) espesimèn materyèl metal yo. Li se yon nouvo pwodwi teknoloji ki fèt ak devlope pa entegre teknoloji mikwoskòp, teknoloji konvèsyon foto-elektrik, ak teknoloji elektwonik pwosesis imaj òdinatè. Li ka byen obsève imaj analiz metalografik sou òdinatè elektwonik, ak Lè sa a, analize ak klas imaj analiz metalografik, osi byen ke pwodiksyon ak imaj kopi.
Mikwoskospi elektwonik optik se yon nouvo kalite ekipman optoelectronic aparèy. Li gen karakteristik preparasyon echantiyon senp, ranje reglabl nan agrandisman, rezolisyon ekran segondè nan imaj, ak gwo pwofondè nan jaden. Pou dè dekad, mikwoskospi elektwonik optik te lajman itilize nan endistri tankou byoloji molekilè, medikaman, ak metaliji, kondwi tandans nan devlopman nan divès kou ki gen rapò.
Gen yon diferans enpòtan ant de kalite mikwoskòp optik, ak aspè kle sa yo:
1, sous limyè a diferan: yon mikwoskòp metalografik sèvi ak limyè vizib kòm sous limyè a, pandan y ap yon mikwoskòp elektwon optik sèvi ak gwo bout bwa ion kòm sous limyè pou D.
2, Prensip debaz yo diferan: mikwoskospi metalografik sèvi ak prensip jeyometrik optik imaj pou D, mikwoskospi elektwonik optik sèvi ak gwo efikasite ion gwo elèktron negatif sou sifas echantiyon an pou estimile divès kalite siyal done fizik sou sifas echantiyon an, ak Lè sa a itilize diferan detektè siyal done pou resevwa siyal done fizik ak konvèti yo nan kontni enfòmasyon imaj.
3, Rezolisyon ekran: Akòz entèferans ak efè transmisyon limyè, rezolisyon ekran yon mikwoskòp metalografik limite nan seri a nan 0.2-0.5um. Akòz itilizasyon reyon ion kòm sous limyè, mikwoskòp elèktron analize ka reyalize yon rezolisyon ekran ant 1-3nm. Se poutèt sa, obsèvasyon an mekanis nan mikwoskòp metalografik ki dwe nan analiz nivo μ m, pandan y ap obsèvasyon an mekanis nan optik mikwoskòp elèktron ki dwe nan analiz nivo nano.
4, Pwofondè jaden: Anjeneral, pwofondè jaden yon mikwoskòp metalografik se ant 2-3um, kidonk gen yon kondisyon trè wo pou nivo sifas lis echantiyon an. Se poutèt sa, tout pwosesis preparasyon echantiyon an se relativman konplèks. Pwofondè nan jaden mikwoskospi elektwonik optik ka rive jwenn anpil moun.
Yon mikwoskòp metalografik se yon mikwoskòp optik ki sèvi ak yon aparèy ekleraj sortan pou obsève sifas (konpozisyon alyaj) espesimèn materyèl metal yo. Li se yon nouvo pwodwi teknoloji ki fèt ak devlope pa entegre teknoloji mikwoskòp, teknoloji konvèsyon foto-elektrik, ak teknoloji elektwonik pwosesis imaj òdinatè. Li ka byen obsève imaj analiz metalografik sou òdinatè elektwonik, ak Lè sa a, analize ak klas imaj analiz metalografik, osi byen ke pwodiksyon ak imaj kopi.
Mikwoskospi elektwonik optik se yon nouvo kalite ekipman optoelectronic aparèy. Li gen karakteristik preparasyon echantiyon senp, ranje reglabl nan agrandisman, rezolisyon ekran segondè nan imaj, ak gwo pwofondè nan jaden. Pou dè dekad, mikwoskospi elektwonik optik te lajman itilize nan endistri tankou byoloji molekilè, medikaman, ak metaliji, kondwi tandans nan devlopman nan divès kou ki gen rapò.
