Diferans ki genyen ant mikwoskòp fòs atomik ak mikwoskòp optik ak mikwoskòp elèktron
Diferans prensipal ant AFM ak teknoloji konpetisyon tankou optik ak mikwoskòp elèktron se ke AFM pa sèvi ak lantiy oswa travès limyè. Kidonk, li pa limite pa rezolisyon espasyal akòz difraksyon ak aberasyon, epi li pa mande pou preparasyon espas pou dirije gwo bout bwa a (pa kreye yon vakyòm) ak tach echantiyon an.
Gen plizyè kalite mikwoskòp optik, ki gen ladan mikwoskòp sond optik (ki gen ladan AFM, mikwoskospi tinèl optik (STM) ak mikwoskòp optik optik optik (SNOM/NSOM), mikwoskòp STED (STED), osi byen ke mikwoskospi elektwon ak elektwochimik atomik. fòs mikroskopi EC -AFM). Malgre ke SNOM ak STED eklere echantiyon yo avèk limyè vizib, enfrawouj, e menm terahertz, rezolisyon yo pa limite pa limit difraksyon an.
