Chwazi ant mikwoskòp dwat ak envèse: yon gid pou pran desizyon
Mikwoskòp metalografik dwat la pwodui yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki pote gwo konvenyans nan obsèvasyon ak idantifikasyon itilizatè a. Anplis analize ak idantifye echantiyon metal ak yon wotè 20-30mm, li pi lajman itilize pou sibstans transparan, semi transparan oswa opak akòz konfòmite li ak abitid moun chak jou. Obsève objektif ki pi gwo pase 3 mikron men ki pi piti pase 20 mikron, tankou seramik metal, chips elektwonik, sikui enprime, substrat LCD, fim, fib, objè granulaire, kouch, ak lòt materyèl, ka reyalize bon efè D pou estrikti sifas yo ak tras. Anplis de sa, sistèm kamera ekstèn lan ka fasil konekte nan ekran videyo a ak òdinatè pou obsèvasyon imaj an tan reyèl ak dinamik, ekonomize ak koreksyon, enprime, ak konbine avèk divès kalite lojisyèl satisfè bezwen yo nan plis pwofesyonèl metalografik, mezi, ak jaden ansèyman entèaktif. Envèse mikwoskòp metalografik sèvi ak imaj optik avyon pou idantifye ak analize mikwostrikti divès kalite metal ak alyaj. Li se yon zouti enpòtan pou etidye metalografi nan fizik metal epi li ka lajman itilize nan faktori oswa laboratwa pou bon jan kalite Distribisyon, enspeksyon materyèl bwit, oswa rechèch ak analiz nan estrikti metalografik materyèl apre tretman pwosesis. Li bay rezilta analiz entwisyon epi li se yon ekipman kle pou idantifikasyon ak analiz kalite Distribisyon, fusion, ak tretman chalè nan min, metaliji, fabrikasyon, ak endistri pwosesis mekanik. Nan dènye ane yo, akòz nesesite pou gwo mikwoskòp planar teknoloji pou sipòte pwodiksyon chip nan endistri mikwo-elektwonik, mikwoskòp metalografik yo te prezante ak kontinyèlman amelyore pou satisfè bezwen espesyal endistri a. Envèse mikwoskòp metalografik, kòm sifas obsèvasyon echantiyon an konyenside ak sifas tab travay la, objektif obsèvasyon an sitiye anba tab travay la epi obsève anwo. Fòm obsèvasyon sa a pa limite pa wotè echantiyon an, epi li fasil pou itilize. Estrikti enstriman an se kontra enfòmèl ant, aparans la bèl ak jenere, ak baz mikwoskòp metalografi envèse a gen yon zòn sipò gwo ak yon sant gravite ki ba, ki estab ak serye. Sifas oculaire ak sipò yo panche a 45 degre, sa ki fè obsèvasyon konfòtab.
Anplis de seleksyon estanda konfigirasyon an, mikwoskòp metalografik Envèse a amelyore fonksyon dirèk pwodiksyon imaj li yo atravè pwogrè teknolojik, sa ki fè li fasil pou konekte avèk yon òdinatè epi aplike lojisyèl pou pwosesis entèlijan selon kondisyon pwosesis. Senpleman mete, mete echantiyon an dwat anba a ak echantiyon an Envèse anwo a. Lantiy objektif dwat la ap fè fas a anba, ak lantiy objektif Envèse a ap fè fas anlè. Sa vle di, ak lantiy la Envèse anba sèn nan, mete blòk tès la fas anba sou sèn nan, ak lantiy la desann ak blòk tès la tèt anba, epi obsève sifas tès la anba nan tèt.
Lantiy la mete dwat sou sèn nan, ak blòk tès la fè fas a anwo sou sèn nan. Nan pwen sa a, lantiy la sou tèt, epi blòk tès la mete dwat. Lantiy la obsève sifas tès la depi anwo jouk anba.
