Prensip ak estrikti mikwoskòp fòs atomik (AFM)
1 Inite Deteksyon Fòs
Nan yon sistèm mikwoskòp fòs atomik (AFM), fòs yo dwe mezire se fòs van der Waals ant atòm yo. Yo itilize yon mikwo cantilever nan sistèm sa a pou detekte varyasyon nan fòs entèatomik. Mikwo cantilevers gen paramèt espesifye tankou longè, lajè, konstan prentan ak jeyometri pwent. Yo chwazi diferan sond selon pwopriyete echantiyon ak mòd opere.
2 Inite Deteksyon Pozisyon
Nan sistèm AFM la, cantilever la deflè yon fwa entèraksyon rive ant pwent la ak echantiyon an. Lè yon reyon lazè irradie fen lib nan cantilever a, pozisyon nan lazè a reflete chanje ansanm ak defleksyon cantilever, jenere yon siyal deplasman. Yon detektè pozisyon tach lazè anrejistre deplasman sa a epi konvèti li nan yon siyal elektrik pou tretman siyal pa kontwolè SPM la.
3 Sistèm Feedback
Nan sistèm AFM a, siyal yo te kaptire pa detektè lazè a yo manje nan bouk fidbak la kòm siyal ajisteman entèn yo. Sistèm fidbak la kondwi eskanè a, ki anjeneral fèt ak tib seramik piezoelectric, pou avanse pou pi kòmsadwa pou kenbe yon fòs entèraksyon konstan ant pwent la ak echantiyon an.
Yon AFM entegre twa inite ki anwo yo pou karakterize pwopriyete sifas echantiyon yo: mikwo cantilever la santi fòs entèraksyon ant pwent la ak echantiyon an. Fòs sa a detounen cantilever la. Yon reyon lazè frape nan fen cantilever la; devyasyon deplase limyè a reflete epi li pwodui yon deplasman. Detektè lazè a anrejistre deplasman an epi voye siyal la nan sistèm fidbak la pou ajisteman. Finalman, karakteristik sifas echantiyon an parèt kòm yon imaj.
