Mikwoskòp Optical Echèk analiz
Mikwoskopik imaj doub pa kowenside. Nan obsèvasyon an nan oculaire binokilè, pafwa pral gen yon fenomèn nan doub imaj move aliyman. Aparans doub imaj move aliyman pa pran swen sou konpansasyon an konsistan nan longè de barik lantiy yo. Agrandisman de ocular yo byen diferan, ak Vibration pandan itilizasyon oswa transpò lakòz domaj binokilè. Pozisyon prism la chanje akòz twa rezon. Pou de premye rezon yo, yo te kalibre ak matche lè yo kite faktori a, epi yo ka rezoud osi lontan ke ou peye atansyon sou metòd la ak matche pandan w ap itilize.
Twazyèm rezon ki fè mikwoskòp la pi komen. Nan moman sa a, yo ta dwe louvri kokiy la binokilè, yo ta dwe mete yon règ kwa sou platfòm la, epi yo ta dwe mete 10X retikul nan barik lantiy gòch ak dwa pou obsèvasyon, epi pozisyon ak ang prism binokilè yo ta dwe korije. . , ak lè binocular yo wotasyon yo obsève nan ang diferan, pozisyon yo nan mak kwa yo se nan menm pozisyon nan jaden an de vi nan oculaire yo gòch ak dwa, ak Lè sa a, sere boulon yo.
Lè obsèvasyon binokilè mikwoskòp la, pafwa pral gen enkonsistans nan klète ak koulè nan jaden yo gòch ak dwa de vi, ki pral afekte obsèvasyon an. Sa a se koze pa domaj nan fim nan divize nan prism nan divize gwo bout bwa. Nan moman sa a, yo ta dwe retire prism divize gwo bout bwa a epi voye l bay manifakti mikwoskòp la pou re-kouvwi anvan asanble epi itilize. .
Diferans ki genyen ant aplikasyon mikwoskòp metalografik dwat ak mikwoskòp metalografi envèse
Envèse mikwoskòp métallurgique, depi sifas obsèvasyon echantiyon an konyenside ak sifas workbench la anba, obsèvasyon objektif lantiy sitiye anba workbench la epi obsève anwo, fòm obsèvasyon sa a pa limite pa wotè echantiyon an, osi lontan ke youn sifas obsèvasyon se plat lè w ap prepare echantiyon an Se poutèt sa, li se lajman ki itilize nan laboratwa faktori, enstitisyon rechèch syantifik ak kolèj. Baz mikwoskòp metalografi envèse a gen yon gwo zòn sipò, yon sant gravite ki ba, operasyon ki estab ak serye, ak oculaire a ak sifas sipò yo enkline nan 45 degre, fè obsèvasyon konfòtab.
Mikwoskòp metalografik dwat la gen menm fonksyon debaz ak mikwoskòp metalografi envèse a, eksepte pou analiz ak idantifikasyon echantiyon metal ak yon wotè 20-30mm, paske li konfòm ak abitid chak jou moun, li pi lajman itilize nan transparan. , sibstans translusid oswa opak. Mikwoskòp metaliji dwat la fòme yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki pote gwo konvenyans nan obsèvasyon ak idantifikasyon itilizatè a. Anplis analiz ak idantifikasyon echantiyon metal yo ak yon wotè 20-30mm, obsèvasyon vize pi gwo pase 3 mikron ak mwens pase 20 mikron, tankou cermets, chips elektwonik, sikui enprime, substrat LCD, fim, fib, objè granulaire, kouch ak lòt materyèl sou sifas la Estrikti ak tras ka gen yon bon efè D.
