Karakteristik kle yo sonje lè w ap analize mikwostrikti materyèl ak mikwoskòp metaliji

Dec 05, 2025

Kite yon mesaj

Karakteristik kle yo sonje lè w ap analize mikwostrikti materyèl ak mikwoskòp metaliji

 

Estrikti metalografik optik nan mikwoskòp metalografik se lath tankou, ki se plat nouy estrikti martensitic. Analiz faz difraksyon X-ray ak analiz transmisyon montre ke genyen toujou

 

1. Nati milti-echèl mikwostrikti materyèl la: nivo atomik ak molekilè, nivo defo kristal tankou dislokasyon, nivo mikwostrikti grenn, nivo mikwostrikti mikwoskopik, nivo mikwostrikti makwoskopik, elatriye;

 

2. Mikwostrikti inegal nan mikwoskòp materyèl: Mikwostrikti aktyèl yo souvan montre mòfoloji jewometrik, konpozisyon chimik, ak pwopriyete mikwoskopik tankou mikrodite ak degre elektwochimik lokal yo;

 

3. Direksyon nan mikwostrikti materyèl, ki gen ladan anisotropi nan mòfoloji grenn, direksyon nan estrikti agrandisman ki ba, kristalografi oryantasyon pi pito, ak direksyon nan pwopriyete makwoskopik nan materyèl, yo ta dwe analize ak karakterize separeman;

 

4. Variabilite nan mikwostrikti materyèl: chanjman nan konpozisyon chimik, tranzisyon faz ak evolisyon tisi ki te koze pa faktè ekstèn ak tan tout ka mennen nan chanjman nan mikwostrikti materyèl. Se poutèt sa, anplis analiz kalitatif ak quantitative nan mòfoloji mikwostrikti estatik, yo ta dwe peye atansyon sou si gen yon bezwen etidye pwosesis tranzisyon faz eta solid-, sinetik evolisyon mikwostrikti ak mekanis evolisyon;

 

5. Karakteristik fractal ki ka egziste nan mikrostruktur materyèl yo ak karakteristik depandan rezolisyon ki ka egziste nan obsèvasyon metalografik espesifik yo ka mennen nan yon gwo depandans rezilta analiz quantitative sou rezolisyon imaj. Sa a se patikilyèman enpòtan lè quantitatively analize mòfoloji sifas nan sifas ka zo kase materyèl ak estoke ak trete fichye imaj dijital nan mikrostruktur;

 

6. Limit yo nan rechèch ki pa quantitative sou mikwostrikti materyèl: Malgre ke rechèch kalitatif sou mikwostrikti ka toujou satisfè bezwen yo nan jeni materyèl, analiz syans materyèl toujou mande pou detèminasyon quantitative nan mòfoloji a jewometrik nan mikwostrikti ak analiz erè nan rezilta yo jwenn analiz quantitative.

 

4 Electronic Magnifier

Voye rechèch