Ki jan yo chwazi yon mikwoskòp metalografik pou yon laboratwa ki gen rapò ak chimi ak fizik
Mikwoskòp metalografik yo te vin enstriman analyse ki pi komen nan laboratwa ak chanm R&D, men pou pwofesyonèl ki souvan itilize mikwoskòp, ki jan yo fasil chwazi yon mikwoskòp ki satisfè bezwen rechèch syantifik yo epi ki pri-la efikas se yon pwoblèm trè maltèt.
Youn: Konnen ki kalite mikwoskòp ki apwopriye pou echantiyon ou vle teste anvan ou achte?
Mikwoskòp yo ka divize selon diferan fonksyon dapre echantiyon obsèvasyon yo: jeneralman gen mikwoskòp metalografik, mikwoskòp polarizant, mikwoskòp stereo, mikwoskòp byolojik, mikwoskòp fluoresans, elatriye. Diferan mikwoskòp fonksyonèl yo itilize nan diferan fason. Mikwoskòp polarize yo pwensipalman itilize nan deteksyon materyèl anisotropik ki pa metalik tankou minre jewolojik. Mikwoskòp metalografik yo pwensipalman itilize nan obsèvasyon, idantifikasyon ak analiz estrikti entèn divès kalite materyèl opak tankou metal. Li apwopriye pou faktori, min, antrepriz, enstitisyon aprantisaj siperyè ak depatman rechèch syantifik. Ekipe ak yon aparèy kamera, enstriman an ka pran atlas metalografik, mezire ak analize atlas yo, epi edite, pwodiksyon, magazen, ak jere imaj. Se poutèt sa, anvan ou achte, ou ta dwe konnen ki echantiyon an ou vle obsève se, pou ke komèsan an ka rekòmande ou yon mikwoskòp apwopriye.
2. Achte yon mikwoskòp dwat oswa yon mikwoskòp Envèse?
Anvan ou reponn kesyon sa a, li ta dwe klè ki diferans ki genyen ant yon mikwoskòp dwat ak yon mikwoskòp Envèse:
Mikwoskòp metalografik, ke yo rele tou mikwoskòp materyèl, se sitou itilize yo obsève estrikti nan tisi metal, ki ka divize an mikwoskòp metalografi dwat ak mikwoskòp metalografi envèse.
Mikwoskòp metalografik dwat la fòme yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki pote gwo konvenyans nan obsèvasyon ak idantifikasyon itilizatè a. Anplis analiz ak idantifikasyon echantiyon metal yo ak yon wotè 20-30mm, li an liy ak abitid chak jou moun. , kidonk li se pi lajman itilize nan sibstans transparan, translusid oswa opak. Obsèvasyon objè ki pi gwo pase 3 mikron ak mwens pase 20 mikron, tankou cermets, chips elektwonik, sikui enprime, LCD substrats, fim, fib, objè granulaire, kouch ak lòt estrikti sifas materyèl ak tras, ka gen bon efè D. Anplis de sa, sistèm kamera ekstèn lan ka fasil konekte nan ekran videyo a ak òdinatè pou obsèvasyon imaj an tan reyèl ak estatik ak dinamik, depo, koreksyon, enprime, konbine avèk divès kalite lojisyèl satisfè bezwen yo nan metalografi plis pwofesyonèl, mezi, ak domèn ansèyman entèaktif. Envèse mikwoskòp metalografik sèvi ak metòd pou imaj optik avyon pou idantifye ak analize estrikti divès kalite metal ak alyaj. Li se yon zouti enpòtan pou rechèch metalografi nan metalografi. Li ka lajman itilize nan faktori oswa laboratwa pou depoze bon jan kalite ak enspeksyon matyè premyè. , oswa rechèch la ak analiz nan estrikti metalografik nan materyèl apre tretman pwosesis, konsa tankou bay rezilta analiz entwisyon, li se ekipman an kle pou idantifikasyon bon jan kalite ak analiz nan Distribisyon, SMELTING, ak tretman chalè nan min, metaliji, fabrikasyon, ak mekanik. endistri pwosesis. Nan dènye ane yo, endistri mikwo-elektwonik la bezwen mikwoskospi planè gwo agrandisman pou sipòte pwodiksyon chip. Se poutèt sa, mikwoskòp metalografik yo te prezante nan jaden sa a pou pwomosyon ak itilizasyon, epi yo te kontinyèlman amelyore satisfè bezwen espesyal endistri a. Envèse mikwoskòp métallurgique, paske sifas obsèvasyon echantiyon an kowenside ak sifas workbench la anba, epi obsèvasyon objektif lantiy sitiye anba workbench la pou obsève anwo, fòm obsèvasyon sa a pa limite pa wotè echantiyon an, li fasil. pou itilize, enstriman an se kontra enfòmèl ant nan estrikti, ak bèl ak jenere, baz la nan mikwoskòp metalografi envèse a gen yon gwo zòn sipò, sant gravite a se ba, egzat, ki estab ak serye, oculaire a ak sifas la sipò yo enkline nan 45 degre, fè obsèvasyon konfòtab.
Anplis de seleksyon estanda konfigirasyon an, mikwoskòp metalografi envèse a gen yon fonksyon pwodiksyon imaj dirèk atravè amelyorasyon teknik, epi li ka fasil konekte ak yon òdinatè pou aplike lojisyèl pou pwosesis entèlijan selon kondisyon pwosesis. Senpleman mete: mete echantiyon dwat la sou anba a, ak echantiyon an Envèse sou tèt la. Objektif dwat yo pwen desann, objektif envèse pwen anlè. Sa vle di: lantiy la Envèse se anba sèn nan, epi blòk tès la mete sou sèn nan ak sifas tès la fè fas a desann. Nan moman sa a, lantiy la desann, blòk tès la tèt anba, ak lantiy la obsève sifas tès la anba nan tèt.
Lantiy dwat la se sou sèn nan, epi blòk tès la mete sou sèn nan fè fas a moute. Nan moman sa a, lantiy la se sou tèt la, blòk tès la se sou tèt la, ak lantiy la obsève sifas tès la depi anwo jouk anba.
Apre w fin chwazi yon sèten kalite mikwoskòp dapre echantiyon an, ou ka fondamantalman al gade nan pwen ki anwo yo lè w ap konsidere si w ap chwazi yon mikwoskòp dwat oswa yon mikwoskòp Envèse. An menm tan an, ou dwe konsidere tou kondisyon preparasyon echantiyon ki egziste deja ou yo, paske mikwoskòp dwat la Kondisyon pou preparasyon echantiyon yo relativman wo, pandan ke sa yo pou mikwoskòp Envèse yo relativman ba.
