Ki jan yo kalkile agrandisman total yon mikwoskòp?
Petèt kèk moun ka di ke sa a se pa yon pwoblèm trè senp, men an reyalite li toujou yon ti jan konplike.
Premye a tout, an n bay yon egzanp: lè agrandisman nan oculaire a nan yon stereomikwoskòp se 10 fwa, ranje a rale nan kò a agrandisman varyab se 0.7X-4.5X, ak lantiy la objektif adisyonèl se 2X, Lè sa a, agrandisman optik li yo se 10 fwa 0.7 fwa 2. Agrandisman minimòm nan mikwoskòp sa a se 10 fwa maksimòm 14 fwa, se 14 fwa agrandisman. ki egal a 90 fwa. Se poutèt sa, agrandisman total optik stereomikwoskòp sa a se 14 fwa a 90 fwa. Natirèlman, sa a se sèlman agrandisman aktyèl la nan mainframe mikwoskòp la. Apre sa, se agrandisman dijital mikwoskòp la.
Pou egzanp, si gwosè monitè a se 17 pous epi yo itilize yon kamera mikwoskòp 1/3, agrandisman dijital kamera mikwoskòp la jan yo montre nan tablo ki anba a se 72 fwa. Fòmil pou kalkile agrandisman dijital mikwoskòp la se: ki baze sou konfigirasyon mikwoskòp stereo pi wo a, agrandisman varyab la se 0.7X-4.5X, objektif adisyonèl la se 2X, ak oculaire kamera a se 1 (si oculaire kamera a pa gen okenn agrandisman, li pa bezwen enkli nan kalkil la). Dapre fòmil la: objektif lantiy X kamera ocular agrandisman X dijital agrandisman, minimòm agrandisman dijital la se 0.7 fwa 2 fwa 1 fwa 72, ki egal 100.8 fwa, ak maksimòm agrandisman dijital la se 4.5 fwa 2 fwa 1 fwa 72, ki egal 648 fwa Ranje a dijital agrandisman se soti nan 106488 fwa.
Nan ka sa a, de fòmil ap parèt:
1. Agrandisman total optik =agrandisman ocular X agrandisman objektif
2. Agrandisman total dijital =objektif lantiy X agrandisman ocular kamera X agrandisman dijital
Fòmil sa a apwopriye pou nenpòt mikwoskòp, kit se yon mikwoskòp metalografik, yon mikwoskòp byolojik, elatriye.
Entwodiksyon nan laboratwa analiz Beijing Chip
IC laboratwa analiz echèk
Beiruan Testing Entelijan Product Testing Laboratory te mete an fonksyon nan fen 2015 epi li kapab fè travay tès an akò ak estanda entènasyonal, domestik, ak endistri. Li fè travay tès konplè soti nan chips kache nan pwodwi aktyèl, soti nan fizik nan lojik. Li bay sèvis tès sekirite tankou chip preprocessing, atak chanèl bò, atak optik, atak pwogrese, anviwònman, atak pike vòltaj, piki elektwomayetik, piki radyasyon, sekirite fizik, sekirite lojik, fonksyonalite, konpatibilite, ak piki lazè milti-pwen. An menm tan an, li ka similye ak repwodui fenomèn nan echèk pwodwi entèlijan, idantifye kòz echèk la, epi bay analiz echèk ak sèvis tès, sitou ki gen ladan Estasyon Sond, Reactive Ion Etching (RIE), Micro Leakage Detection System (EMMI), X- Tès Ray, ak Sistèm Obsèvasyon Koupe Defo (FIB). Tès sistèm ak lòt eksperyans enspeksyon. Reyalize evalyasyon ak analiz de kalite pwodwi entèlijan, bay bon jan kalite asirans pou chips yo, lojisyèl entegre, ak aplikasyon pou pwodwi ekipman entelijan.
