Ki jan mikwoskospi limyè diferan de mikwoskopi elektwonik
Diferans ki genyen ant mikwoskòp elèktron ak mikwoskòp optik se sitou kat pwen sa yo:
Premyèman, sous limyè a diferan
Mikwoskòp optik sèvi ak limyè vizib kòm yon sous limyè, mikwoskòp elèktron sèvi ak yon gwo bout bwa elèktron kòm yon sous limyè.
Dezyèmman, prensip D 'se diferan
Mikwoskòp optik lè l sèvi avèk prensip jeyometrik optik D 'pou D, mikwoskòp elèktron lè l sèvi avèk gwo enèji bonbadman gwo bout bwa elèktron nan sifas echantiyon an, eksitasyon nan yon varyete de siyal fizik sou sifas la nan echantiyon an, ak Lè sa a, itilize nan detektè siyal diferan yo aksepte fizik la. siyal konvèti nan enfòmasyon imaj.
Twazyèmman, rezolisyon an diferan
Mikwoskòp optik akòz entèferans ak difraksyon limyè a, rezolisyon an kapab sèlman limite a 0.2-0.5 um. Mikwoskòp elèktron paske yo sèvi ak gwo bout bwa elèktron kòm yon sous limyè, rezolisyon an ka rive ant 1-3nm, kidonk obsèvasyon tisi nan mikwoskòp optik la fè pati analiz nivo mikron, obsèvasyon tisi mikwoskòp elèktron ki dwe nan analiz nivo nanomèt la.
Katriyèmman, pwofondè jaden an diferan
Anjeneral, pwofondè nan jaden an nan mikwoskòp optik se ant 2-3um, kidonk lis sifas echantiyon an gen kondisyon trè wo, kidonk pwosesis la fè echantiyon se relativman konplèks. Elektwon mikwoskòp elèktron mikwoskòp pwofondè nan jaden ka kòm yon wo kèk milimèt, kidonk pa gen okenn kondisyon pou jeyometri nan sifas echantiyon an lis, preparasyon echantiyon se relativman senp. Gen kèk echantiyon ki mande pou preparasyon echantiyon ti oswa pa gen okenn, byenke mikwoskòp kò yo gen tou yon pwofondè relativman gwo nan jaden.
