Diferan fòmasyon metal yo egzamine anba yon mikwoskòp metalografik.
Tanzantan, travayè metalografi yo te obsève karakteristik mikwostrikti materyèl metal kalitatif soti nan sifas poli echantiyon metalografi yo atravè obsèvasyon mikwoskòp, oswa itilize metòd pou konpare ak divès kalite foto estanda pou evalye mikwostrikti, gwosè grenn, ak materyèl ki pa metalik. Presizyon metòd sa a pa wo, ak evalyasyon an trè subjectif, kidonk repwodiksyon rezilta yo pa satisfezan, epi yo tout sou dezyèm sifas poli echantiyon metalografik la. Gen yon sèten diferans ant rezilta mezi yo ak deskripsyon òganizasyon reyèl la nan espas ki genyen twa dimansyon. Aparisyon nan estereoloji modèn bay moun yo yon syans nan èkstrapolasyon soti nan imaj ki genyen de dimansyon nan espas ki genyen twa dimansyon, se sa ki, done yo mezire sou plan an de dimansyon ak fòm nan mikwostrikti teyorik, gwosè, kantite ak fòm nan materyèl la metal. nan espas ki genyen twa dimansyon. Li se yon syans ki konekte estrikti espasyal ki genyen twa dimansyon, fòm, gwosè, kantite ak distribisyon materyèl ak fonksyon mekanik yo, epi li bay done analyse serye pou evalye materyèl syantifikman.
Depi mikwostrikti ak melanj ki pa metalik nan materyèl metal yo pa distribye inifòm, detèminasyon nenpòt paramèt pa ka detèmine pa mezire youn oswa plizyè jaden de vi anba yon mikwoskòp ak je imen, epi li nesesè pou itilize metòd kontablite pou detèmine. ase Se sèlman lè w fè anpil travay kalkil ak plis jaden yo ka garanti fyab rezilta mezi yo. Sipoze ke sèlman je moun yo itilize pou evalyasyon vizyèl anba mikwoskòp la, presizyon, konsistans ak repwodiksyon yo pòv, ak vitès detèminasyon an trè dousman, ak kèk menm pa ka te pote soti akòz kantite travay la lou. Analizè imaj la ranplase obsèvasyon ak kalkil je imen ak optik elektwonik avanse ak teknoloji òdinatè elektwonik. Li ka fleksib ak presizyon fè kalkil-siyifikatif mezi ak pwosesis done. Li tou gen gwo presizyon ak bon repwodibilite, evite tretman Enfliyans faktè sou rezilta evalyasyon metalografik la ak lòt karakteristik, ak operasyon an se senp, ak rapò mezi a ka dirèkteman enprime, ki te vin tounen yon mwayen endispansab nan analiz metalografik quantitative nan. tan sa a.
Analizeur imaj mikwoskòp se yon enstriman pwisan pou rechèch metalografik quantitative sou materyèl, epi li se tou yon bon asistan pou enspeksyon metalografik chak jou. Li ka evite erè subjectif ki te koze pa evalyasyon manyèl, ak Lè sa a, evite fenomèn nan brouyaj. Malgre ke li enposib epi li pa nesesè pou itilize analizè imaj la chak fwa nan enspeksyon metalografik chak jou, lè bon jan kalite pwodwi a nòmal oswa nivo estrikti metalografi a se ant kalifye ak san kalifye epi yo pa ka jije, analizeur imaj la ka itilize pou analize Li fè. analiz quantitative pou jwenn rezilta egzat epi asire bon jan kalite pwodwi. Aplikasyon an nan analizeur imaj nan analiz metalografik te elaji atik yo deteksyon nan enspeksyon metalografik, ankouraje amelyorasyon nan nivo deteksyon, epi tou li trè benefik amelyore kalite pèsonèl deteksyon an.
Entwodiksyon nan Prensip la ak Fonksyon Mikwoskòp Imaj Analyzer
Sistèm analizè imaj la se yon sistèm imaj optik ki konpoze de yon mikwoskòp metalografik ak yon etap kamera mikwoskopik, ak objektif li se fè yon imaj nan yon echantiyon metalografik oswa foto. Mikwoskòp metalografik la ka dirèkteman pote analiz metalografik quantitative sou echantiyon metalografik la; tab kamera mikwoskopik la apwopriye pou analize foto metalografik, fim negatif ak objè, elatriye.
