Diferans nan aplikasyon ant mikwoskòp metalografi dwat ak mikwoskòp metalografi envèse
Diferans ki genyen ant dwat ak Envèse se tou senpleman ke echantiyon an mache dwat yo mete anba a epi yo mete echantiyon an Envèse pi wo a. Lantiy objektif dwat la ap fè fas a anba, ak lantiy objektif Envèse a ap fè fas anlè.
Envèse mikwoskòp metalografik yo souvan itilize nan laboratwa faktori, enstitisyon rechèch syantifik, ak inivèsite paske sifas obsèvasyon echantiyon an konyenside ak sifas tab travay la, epi objektif obsèvasyon an sitiye anba tab travay la pandan y ap obsève anwo. Fòm obsèvasyon sa a pa limite pa wotè echantiyon an, epi sèlman yon sifas obsèvasyon plat lè w ap prepare echantiyon an. Baz mikwoskòp metalografi envèse a gen yon gwo zòn sipò, yon sant gravite ki ba, epi li estab ak serye. Sifas oculaire ak sipò yo panche nan 45 degre pou obsèvasyon konfòtab.
Mikwoskòp metalografik dwat la gen menm fonksyon debaz ak mikwoskòp metalografi envèse a. Anplis analize ak idantifye echantiyon metal ak yon wotè 20-30mm, li pi lajman itilize pou sibstans transparan, semi transparan oswa opak paske li konfòm ak abitid moun chak jou. Mikwoskòp metalografik dwat la pwodui yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki anpil fasilite obsèvasyon itilizatè a ak idantifikasyon. Anplis analize ak idantifye echantiyon metal ak yon wotè 20-30mm, obsève objektif ki pi gwo pase 3 mikron ak pi piti pase 20 mikron, tankou seramik metal, chips elektwonik, sikui enprime, LCD substrats, fim, fib, objè granulaire, kouch, ak lòt materyèl, ka reyalize bon efè imaj sifas yo ak tras yo.
