Diferans ant operasyon dwat ak Envèse nan mikwoskòp metaliji
Diferans ant mikwoskòp metaliji dwat ak Envèse
Depi tou de se mikwoskòp métallurgique, ki sa egzakteman diferans ki genyen ant modèl Envèse ak mache dwat devan Bondye? Jodi a, avèk èd nan laboratwa a nan Ningbo Ouyi Testing Instrument Co., Ltd., nou pral eksplore diferans sa yo.
Envèse mikwoskòp metaliji
Li se sitou itilize pou rechèch la ak analiz nan mikrostruktur nan metal divès kalite ak alyaj, kalite Distribisyon, ak estrikti faz apre tretman chalè.Li se yon enstriman esansyèl pou rechèch metalografik.Paske sifas obsèvasyon echantiyon an Envèse, pa gen okenn restriksyon wotè, epi sèlman yon sifas obsèvasyon plat bezwen prepare sou echantiyon an.
Nan lòt endistri tankou pwodwi elektwonik, fim mens, ak kouch, espesimèn yo ka fè lè l sèvi avèk materyèl aliye frèt epi yo mete dirèkteman sou sèn nan tèt anba pou obsèvasyon fasil akòz transparans nan materyèl la aliye.
Yon kamera ka fasil konekte ak yon monitè ak òdinatè pou obsèvasyon imaj an tan reyèl, estatik, ak dinamik, depo, koreksyon, ak enprime. Konbine ak pakè lojisyèl divès kalite, li ka satisfè kondisyon pwofesyonèl nan analiz metalografik, mezi, ak ansèyman entèaktif.
Mikwoskòp metaliji dwat
Li gen menm fonksyon debaz yo ak mikwoskòp metaliji envèse a. Anplis analize ak idantifye espesimèn metal ak yon wotè 20-30 mm, li pi lajman itilize pou materyèl transparan, translusid, oswa opak paske li konfòm ak abitid gade nòmal.
Li delivre ekselan D pou objektif obsèvasyon ant 3 μm ak 20 μm, tankou estrikti sifas ak tras cermet, chips elektwonik, sikui enprime, substrat LCD, fim mens, fib, materyèl granulaire, ak kouch.
Sistèm D 'li yo ka fasil konekte ak yon monitè ak òdinatè pou obsèvasyon imaj an tan reyèl, estatik, ak dinamik, depo, koreksyon, ak enprime. Konbine ak divès kalite lojisyèl, li satisfè bezwen plis pwofesyonèl nan metalografi, mezi, ak ansèyman entèaktif.
