Achte yon mikwoskòp dwat oswa yon mikwoskòp Envèse?
Mikwoskòp metalografik dwat la fòme yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki pote gwo konvenyans nan obsèvasyon ak idantifikasyon itilizatè a. Anplis analiz ak idantifikasyon echantiyon metal yo ak yon wotè 20-30mm, li an liy ak abitid chak jou moun. , kidonk li se pi lajman itilize nan sibstans transparan, translusid oswa opak. Obsèvasyon objè ki pi gwo pase 3 mikron ak mwens pase 20 mikron, tankou cermets, chips elektwonik, sikui enprime, LCD substrats, fim, fib, objè granulaire, kouch ak lòt estrikti sifas materyèl ak tras, ka gen bon efè D. Anplis de sa, sistèm kamera ekstèn lan ka fasil konekte nan ekran videyo a ak òdinatè pou obsèvasyon imaj an tan reyèl ak estatik ak dinamik, depo, koreksyon, enprime, konbine avèk divès kalite lojisyèl satisfè bezwen yo nan metalografi plis pwofesyonèl, mezi, ak domèn ansèyman entèaktif. Envèse mikwoskòp metalografik sèvi ak metòd pou imaj optik avyon pou idantifye ak analize estrikti divès kalite metal ak alyaj. Li se yon zouti enpòtan pou rechèch metalografi nan metalografi. Li ka lajman itilize nan faktori oswa laboratwa pou depoze bon jan kalite ak enspeksyon matyè premyè. , oswa rechèch la ak analiz nan estrikti metalografik nan materyèl apre tretman pwosesis, konsa tankou bay rezilta analiz entwisyon, li se ekipman kle pou idantifikasyon bon jan kalite ak analiz nan Distribisyon, SMELTING, ak tretman chalè nan min, metaliji, fabrikasyon, ak mekanik. endistri pwosesis. Nan dènye ane yo, endistri mikwo-elektwonik la bezwen mikwoskospi planè gwo agrandisman pou sipòte pwodiksyon chip. Se poutèt sa, mikwoskòp metalografik yo te prezante nan jaden sa a pou pwomosyon ak itilizasyon, epi yo te kontinyèlman amelyore satisfè bezwen espesyal endistri a. Envèse mikwoskòp métallurgique, paske sifas obsèvasyon echantiyon an kowenside ak sifas workbench la anba, epi obsèvasyon objektif lantiy sitiye anba workbench la pou obsève anwo. Fòm obsèvasyon sa a pa limite pa wotè echantiyon an. Bèl ak jenere, baz la nan mikwoskòp metalografi envèse a gen yon gwo zòn sipò, sant gravite a ba, san danje, ki estab ak serye, oculaire a ak sifas la sipòte yo enkline nan 45 degre, fè obsèvasyon konfòtab.
Anplis de seleksyon estanda konfigirasyon an, mikwoskòp metalografi envèse a gen yon fonksyon pwodiksyon imaj dirèk atravè amelyorasyon teknik, epi li ka fasil konekte ak yon òdinatè pou aplike lojisyèl pou pwosesis entèlijan selon kondisyon pwosesis. Senpleman mete: mete echantiyon dwat la sou anba a, ak echantiyon an Envèse sou tèt la. Objektif dwat yo pwen anba, objektif envèse pwen anlè. Sa vle di: lantiy la Envèse se anba sèn nan, epi blòk tès la mete sou sèn nan ak sifas tès la fè fas a desann. Nan moman sa a, lantiy la desann, blòk tès la tèt anba, ak lantiy la obsève sifas tès la anba nan tèt.
Lantiy dwat la se sou sèn nan, epi blòk tès la mete sou sèn nan fè fas a moute. Nan moman sa a, lantiy la se sou tèt la, blòk tès la se sou tèt la, ak lantiy la obsève sifas tès la depi anwo jouk anba.
Apre w fin chwazi yon sèten kalite mikwoskòp dapre echantiyon an, ou ka fondamantalman al gade nan pwen ki anwo yo lè w ap konsidere si w ap chwazi yon mikwoskòp dwat oswa yon mikwoskòp Envèse. An menm tan an, ou dwe konsidere tou kondisyon preparasyon echantiyon ki egziste deja ou yo, paske mikwoskòp dwat la Kondisyon pou preparasyon echantiyon yo relativman wo, pandan ke sa yo pou mikwoskòp Envèse yo relativman ba.
