Mikwoskòp fòs atomik ak deteksyon lazè
Prensip debaz yon mikwoskòp fòs atomik se jan sa a: yon bout nan yon mikrokantilever, ki trè sansib a fòs fèb, se fiks, ak yon ti pwent sond monte nan lòt bout la. Pwent la dousman kontakte sifas echantiyon an. Akòz fòs repouse ekstrèmman fèb ant atòm yo sou pwent ankèt la ak sa yo ki sou sifas echantiyon an, pa kenbe fòs sa a konstan pandan optik, mikrokantilever a ak pwent an deplase monte ak desann pèpandikilè nan sifas echantiyon an, apre sifas la ekipotensyal defini pa fòs la entèraksyon ant pwent la ak atòm sifas echantiyon an. Sèvi ak deteksyon optik oswa tinèl metòd deteksyon aktyèl yo, yo ka mezire chanjman pozisyon nan microcantilever nan chak pwen optik, pou yo ka jwenn enfòmasyon sou topografi sifas echantiyon an. Nan sa ki annapre yo, nou pran mikwoskòp fòs atomik ki anplwaye defleksyon gwo bout bwa lazè pou deteksyon fòs (Laser-AFM), yon manm souvan itilize nan fanmi an mikwoskòp pwofonde optik, pou elabore sou prensip k ap travay li yo.
Pandan tout pwosesis la D ak deteksyon nan sistèm nan, se distans ki genyen ant pwofonde a ak echantiyon an teste kenbe nan echèl la nanomèt (10⁻⁹ m). Si distans la twò gwo, enfòmasyon sifas echantiyon an pa ka akeri; si distans la twò piti, tou de ankèt la ak echantiyon teste a pral domaje. Bouk la fidbak fonksyone jan sa a: pandan operasyon an, li resevwa mayitid fòs entèraksyon sond-echantiyon an nan pwofonde a, epi ajiste vòltaj la aplike nan aks vètikal eskanè echantiyon an. Sa a kondui echantiyon an pwolonje oswa retrè, kidonk reglemante separasyon an pwofonde-echantiyon ak nan vire estabilize grandè a nan fòs la entèraksyon sond-echantiyon reyalize kontwòl fidbak. Se poutèt sa, kontwòl fidbak konstitye mekanis fonksyònman debaz sistèm sa a.
Sistèm sa a adopte yon bouk kontwòl dijital fidbak. Itilizatè yo ka kontwole karakteristik bouk fidbak la lè yo mete paramèt ki gen ladan aktyèl referans, benefis entegral ak pwofi pwopòsyonèl nan ba zouti paramèt lojisyèl kontwòl la.
