Analize kèk karakteristik materyèl lè l sèvi avèk mikwoskòp metalografik
1. Nati milti-echèl la nan mikrostruktur materyèl: nivo atomik ak molekilè, nivo domaj kristal tankou perturbasyon, nivo mikrostruktur grenn, nivo mikrostruktur mikroskopik, nivo mikroskopi makroskopi, elatriye;
2. Mikrostruktur inegal nan mikwoskòp materyèl: microstructures aktyèl souvan montre mòfoloji jewometrik, konpozisyon chimik, ak pwopriyete mikwoskopik tankou microhardness ak degre elektwochimik lokal;
3. Direksyon an nan mikrostruktur materyèl, ki gen ladan anisotropi nan mòfoloji grenn, direktivite nan estrikti mikwoskòp ki ba, oryantasyon kristalografik pi pito, ak direksyon nan pwopriyete makroskopik nan materyèl, yo ta dwe analize ak karakterize separeman;
4. Varyabilite nan mikrostruktur materyèl: chanjman nan konpozisyon chimik, tranzisyon faz ak evolisyon tisi ki te koze pa faktè ekstèn ak tan ka tout mennen nan chanjman ki fèt nan mikrostruktur materyèl. Se poutèt sa, nan adisyon a analiz kalitatif ak quantitative nan mòfoloji estatik mikrostruktur, atansyon yo ta dwe peye si gen yon bezwen yo etidye pwosesis la tranzisyon solid-eta faz, mikrostruktur evolisyon cinétique ak mekanis evolisyon;
5. Karakteristik sa yo fractal ki ka egziste nan mikrostruktur la nan materyèl ak rezolisyon karakteristik yo ki depandan ki ka egziste nan obsèvasyon espesifik metalografik ka mennen nan yon depandans fò nan rezilta analiz quantitative sou rezolisyon imaj. Sa a se patikilyèman enpòtan lè kantitativman analize mòfoloji nan sifas nan sifas ka zo kase materyèl ak estoke ak pwosesis dosye imaj dijital nan microstructures;
6. Limit yo nan rechèch ki pa quantitative sou mikrostruktur materyèl: byenke rechèch kalitatif sou mikrostruktur ka toujou satisfè bezwen yo nan jeni materyèl, analiz syans materyèl toujou mande pou detèminasyon quantitative nan mòfoloji a jewometrik nan mikrostruktur ak analiz erè nan rezilta yo analiz analiz.
