Ki diferans ki genyen ant mikwoskospi limyè ak mikwoskopi elektwonik?
Yon mikwoskòp optik tipik sèvi ak limyè vizib pou eklere yon echantiyon ak yon seri lantiy vè pou agrandi imaj echantiyon an. Depi w ap itilize limyè, ou ka mete echantiyon an anba mikwoskòp la nan lè anbyen, oswa pou kèk aplikasyon, nan yon ti kantite dlo oswa lwil oliv. Pou mikroskopi limyè konpoze, anjeneral nou bezwen echantiyon an mens paske nou vle limyè pase nan li pou nou ka wè detay entèn yo. Sa a anjeneral vle di koupe seksyon nan echantiyon an, men depann sou echantiyon an, epesè nan seksyon yo ka apeprè 1 a 20 mikron. Avèk mikwoskòp limyè stereo oswa diseksyon, pa gen okenn kondisyon sa yo paske anjeneral ou jis gade sifas echantiyon an. Obsève imaj agrandi nan yon mikwoskòp optik atravè oculaires yo,
Mikwoskòp elèktron sèvi ak yon gwo bout bwa ak anpil atansyon kontwole nan elektwon kòm yon fòm ekleraj. Se gwo bout bwa a kontwole ak konsantre pa yon seri de lantiy elektwomayetik, ki se esansyèlman pwisan bobin elektwomayetik ak yon twou santral nan ki elektwon yo pase. Lantiy la kontwole gwo bout bwa limyè a frape echantiyon an epi tou li agrandi imaj echantiyon an. Depi w ap travay ak yon gwo bout bwa elèktron, tout sistèm optik elektwon an bezwen nan yon vakyòm segondè, ki vle di echantiyon an dwe apwopriye pou anviwònman an vakyòm. Nan yon mikwoskòp elektwonik transmisyon (TEM), elektwon yo dwe pase nan echantiyon an, kidonk echantiyon an dwe trè mens, mwens pase 0.1 mikron. Imaj agrandi yo wè sou yon ekran fliyoresan men yo ka anrejistre ak yon kamera CCD monte anba oswa anwo ekran an.
Mikwoskòp elèktron eskane (SEM) sanble anpil ak yon mikwoskòp diseksyon optik nan yon fason, nan ke w ap gade ak anpil atansyon nan sifas echantiyon an, kidonk li pa dwe mens. Nan SEM, echantiyon an analize ak yon gwo bout bwa elèktron byen konsantre, kidonk echantiyon an dwe kapab kenbe tèt ak vakyòm segondè epi li dwe rezonab kondiktif. (Sa a se paske w ap jete yon kouran elektwon nan echantiyon an, epi aktyèl la dwe fèt ale.) Echantiyon SEM yo souvan kouvwi ak yon kouch trè mens nan kabòn oswa metal (tankou lò oswa chromium) fè yo kondiktif.
Kòmantè ki anwo yo dekri diferans ki genyen nan instrumentation fizik, e mwen pa t menm mansyone ke mikwoskòp elèktron yo pi gwo ak pi konplèks pase mikwoskòp limyè. Men, diferans prensipal ki genyen ant limyè ak mikwoskòp elèktron se rezolisyon - kapasite nan rezoud ti detay yo. Rezolisyon finalman limite pa longèdonn limyè nan mikwoskospi optik ak longèdonn efikas nan gwo bout bwa a elèktron nan mikwoskòp elèktron. Piske longèdonn limyè vizib la apeprè nan ranje {{0}} nanomèt, rezolisyon optimal mikwoskòp optik la se apeprè 200 nanomèt (0. 2 mikromèt). Pou yon TEM opere nan 200 kilovolts, longèdonn gwo bout bwa elèktron a se 0.0025 nanomèt, rezolisyon aktyèl la nan yon enstriman konsa se apeprè 0.2 nanomèt, oswa mil fwa pi bon pase yon mikwoskòp optik. TEM avanse yo ka gen rezolisyon tou pre 0.1 nanomèt, ak anpil TEM yo ka imajine atòm nan estrikti regilye.
Piske agrandisman se tou senpleman rapò ki jan yon objè parèt nan je oswa ekran an konpare ak gwosè aktyèl li, sa vle di ke yon mikwoskòp optik trè bon gen yon agrandisman maksimòm de 1000-2000x ak agrandisman maksimòm ki disponib nan yon kalite siperyè. TEM se 1-2 milyon fwa. Pou SEM, gen anpil lòt faktè ki afekte rezolisyon, epi agrandisman maksimòm ki disponib se pwobableman anviwon 300,000x.
Kòm ou ka wè, gen tout bon anpil diferans ant limyè ak mikwoskòp elèktron, ak pwoblèm rezolisyon yo se youn nan prensipal. Pou aplikasyon pratik, chwa ki kalite enstriman yo itilize pral finalman depann sou rezolisyon an ak agrandisman ki nesesè yo ak fasilite nan preparasyon echantiyon.
