Kalite ak karakteristik nan mikwoskòp elektwonik analysis
Gen divès kalite optik mikwoskòp elektwonik, ak diferan kalite mikwoskòp elektwonik analysis gen diferans pèfòmans. Dapre ki kalite zam elèktron, li kapab divize an twa kalite: jaden zam emisyon elektwonik, zam fil tengstèn, ak lantan hexaboride. Pami yo, ka emisyon jaden optik mikroskopi elèktron dwe divize an frèt jaden emisyon optik mikroskopi elektwonik ak cho jaden emisyon mikroskopi elektwonik ki baze sou pèfòmans nan sous la limyè. Fwad jaden emisyon optik mikroskopi elèktron mande pou kondisyon vakyòm segondè, enstab aktyèl gwo bout bwa, kout emeteur validite, epi li mande pou netwayaj regilye nan pwent an zegwi, ki limite a sa sèlman yon sèl obsèvasyon imaj epi ki gen yon seri aplikasyon limite; Mikwoskòp elektwonik elektwonik ki gen tèmik tèmik la pa sèlman gen yon tan kontinyèl tan kontinyèl, men li ka tou konbine avèk Pwodwi pou Telefòn divès kalite reyalize analiz konplè. Nan jaden an nan géologie, nou pa sèlman bezwen obsève mòfolojik la preliminè nan echantiyon yo, men tou bezwen analize lòt pwopriyete nan echantiyon yo nan konbinezon ak analysers, se konsa aplikasyon an nan tèmik jaden emisyon optik mikroskopi elèktron se pi plis vaste.
Malgre ke optik mikroskopi elèktron se yon Nouvo nan fanmi an mikwoskòp, vitès devlopman li yo se trè vit akòz avantaj anpil li yo.
Enstriman an gen yon rezolisyon segondè, epi li ka obsève detay sou 6nm sou sifas la nan echantiyon an nan D 'elèktron segondè. Lè l sèvi avèk yon zam elèktron Lab6, li ka pli lwen amelyore nan 3nm.
Enstriman a gen yon pakèt chanjman mikwoskòp epi yo ka kontinyèlman ajiste. Se poutèt sa, diferan gwosè nan jaden nan vi ka chwazi pou obsèvasyon jan sa nesesè, ak imaj ki klè ak klète segondè ki difisil a reyalize ak jeneral transmisyon mikroskopi elèktron kapab tou jwenn nan mikwoskòp segondè.
Pwofondè nan jaden ak jaden de vi nan echantiyon an yo gwo, ak imaj la se moun rich nan sans ki genyen twa dimansyon. Li ka dirèkteman obsève sifas ki graj ak ondulasyon gwo ak imaj inegal metal ka zo kase nan echantiyon an, bay moun yon sans pou yo te prezan nan mond lan mikwoskopik.
Preparasyon 4 echantiyon yo senp. Osi lontan ke echantiyon yo blòk oswa poud yo yon ti kras trete oswa pa trete yo, yo ka dirèkteman obsève anba yon mikwoskòp elektwonik optik, ki se pi pre eta natirèl la nan sibstans la.
5. Kalite imaj ka efektivman kontwole ak amelyore nan metòd elektwonik, tankou antretyen otomatik nan klète ak kontras, koreksyon nan ang enklinezon echantiyon, wotasyon imaj, oswa amelyorasyon nan tolerans kontras imaj nan batman Y, osi byen ke klète modere ak fènwa nan divès pati nan imaj la. Lè l sèvi avèk yon aparèy mikwoskòp doub oswa seleksyon imaj, imaj ak mayifikasyon diferan ka obsève ansanm sou ekran an fliyoresan.
6 ka sibi analiz konplè. Enstale yon longèdonn dispersive X-ray spectrometer espektwomèt (WDX) oswa enèji dispèsyonèl X-ray spectrometer espektwomèt (EDX) yo ki ap pèmèt li fonksyone kòm yon pwofonde elèktron ak detekte reflete elektwon, radyografi, cathodoluminescence, transmèt elektwon, elektwon Auger, elatriye emèt pa echantiyon an. Ogmante aplikasyon an nan optik mikroskopi elèktron nan divès kalite mikwoskopik ak mikwo metòd analiz zòn te demontre multi a nan optik mikroskopi elektwonik. Anplis de sa, li posib tou analize zòn yo chwazi mikwo nan echantiyon an pandan y ap obsève imaj la mòfoloji; Pa enstale echantiyon an semi -conducteurs atachman, rakor PN ak domaj mikwo nan tranzistò oswa sikwi entegre ka dirèkteman obsève nan yon anplifikatè imaj elektwomotiv fòs. Akòz aplikasyon an nan òdinatè elektwonik kontwòl otomatik ak semi-otomatik pou anpil optik elektwonik elektwonik elektwonik sond, vitès la nan analiz quantitative te anpil amelyore.
