Diferans ki genyen ant aplikasyon mikwoskòp metalografik dwat ak mikwoskòp metalografi envèse
Diferans ki genyen ant aplikasyon mikwoskòp metalografik dwat ak mikwoskòp metalografi envèse
Diferans ki genyen ant dwat ak Envèse se tou senpleman ke echantiyon an mache dwat yo mete anba a, epi echantiyon an Envèse yo mete pi wo a. Objektif dwat yo pwen desann, objektif envèse pwen anlè.
Envèse mikwoskòp métallurgique, depi sifas obsèvasyon echantiyon an konyenside ak sifas workbench la anba, lantiy objektif obsèvasyon an sitiye anba workbench la epi obsève anwo, fòm obsèvasyon sa a pa limite pa wotè echantiyon an, osi lontan ke youn. sifas obsèvasyon se plat lè w ap prepare echantiyon an Se poutèt sa, li se lajman ki itilize nan laboratwa faktori, enstitisyon rechèch syantifik ak kolèj. Baz mikwoskòp metalografi envèse a gen yon gwo zòn sipò, yon sant gravite ki ba, operasyon ki estab ak serye, ak oculaire a ak sifas sipò yo enkline nan 45 degre, fè obsèvasyon konfòtab.
Mikwoskòp metalografik dwat la gen menm fonksyon debaz ak mikwoskòp metalografi envèse a, eksepte pou analiz ak idantifikasyon echantiyon metal ak yon wotè 20-30mm, paske li konfòm ak abitid chak jou moun, li pi lajman itilize nan transparan. , sibstans translusid oswa opak. Mikwoskòp metaliji dwat la fòme yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki pote gwo konvenyans nan obsèvasyon ak idantifikasyon itilizatè a. Anplis analiz ak idantifikasyon echantiyon metal yo ak yon wotè 20-30mm, obsèvasyon vize pi gwo pase 3 mikron ak mwens pase 20 mikron, tankou cermets, chips elektwonik, sikui enprime, substrat LCD, fim, fib, objè granulaire, kouch ak lòt materyèl sou sifas la Estrikti ak tras ka gen yon bon efè D.
