Diferans ki genyen ant mikwoskòp elèktron, mikwoskòp fòs atomik ak mikwoskòp tinèl optik
youn. Karakteristik mikwoskòp elektwon optik Konpare ak mikwoskòp optik ak mikwoskòp elèktron transmisyon, mikwoskòp elèktron optik gen karakteristik sa yo:
(1) Estrikti sifas echantiyon an ka dirèkteman obsève, ak gwosè echantiyon an ka gwo tankou 120mm × 80mm × 50mm.
(2) Pwosesis preparasyon echantiyon an senp epi li pa bezwen koupe an tranch mens.
(3) Echantiyon an ka tradui ak vire toutotou nan yon espas ki genyen twa dimansyon nan chanm echantiyon an, kidonk echantiyon an ka obsève nan divès ang.
(4) Pwofondè jaden an gwo, epi imaj la plen ak twa dimansyon. Pwofondè jaden mikwoskòp elektwon optik la se dè santèn de fwa pi gwo pase mikwoskòp optik la ak plizyè douzèn fwa pi gwo pase mikwoskòp elèktron transmisyon an.
(5) Ranje agrandisman imaj la se lajè ak rezolisyon an relativman wo. Li ka agrandi dis fwa a dè santèn de milye de fwa, epi li fondamantalman gen ladan ranje agrandisman soti nan loup, mikwoskòp optik ak mikwoskòp elèktron transmisyon. Rezolisyon an se ant mikwoskòp optik ak mikwoskòp elèktron transmisyon, jiska 3nm.
(6) Domaj ak kontaminasyon echantiyon an pa gwo bout bwa elèktron yo relativman piti.
(7) Pandan ke yo obsève mòfoloji a, lòt siyal ki soti nan echantiyon an ka itilize tou pou analiz mikwo-konpozan.
2. Mikwoskòp fòs atomik
Atomic Force Microscope (AFM), yon enstriman analyse ki ka itilize pou etidye estrikti sifas materyèl solid, ki gen ladan izolan. Li etidye estrikti sifas ak pwopriyete sibstans yo lè li detekte entèraksyon entèatomi ki trè fèb ant sifas echantiyon an yo dwe teste ak yon eleman tipòtrè fòs-sansib. Yon bout nan yon pè nan mikrokantilever sansib a fòs fèb fiks, ak pwent la ti nan lòt bout la se fèmen nan echantiyon an. Nan moman sa a, li pral kominike avèk li, ak fòs la pral fè microcantilever la defòme oswa chanje eta mouvman li yo. Lè eskanè echantiyon an, sèvi ak Capteur a pou detekte chanjman sa yo, epi yo ka jwenn enfòmasyon distribisyon fòs la, konsa yo ka jwenn enfòmasyon estrikti topografi sifas yo ak enfòmasyon brutality sifas ak rezolisyon nanomèt.
Mikwoskopi fòs atomik gen anpil avantaj sou mikwoskospi elektwonik optik. Kontrèman ak mikwoskòp elèktron, ki sèlman bay imaj ki genyen de dimansyon, AFM yo bay vrè kat jeyografik ki genyen twa dimansyon nan sifas yo. An menm tan an, AFM pa mande pou nenpòt tretman espesyal nan echantiyon an, tankou plating kwiv oswa plating kabòn, ki ka lakòz domaj irevokabl nan echantiyon an. Twazyèmman, mikwoskòp elèktron bezwen opere anba kondisyon vakyòm segondè, pandan y ap mikwoskòp fòs atomik ka travay byen anba presyon nòmal e menm nan anviwònman likid. Sa a ka itilize pou etidye makromolekil byolojik e menm tisi byolojik k ap viv. Konpare ak mikwoskòp scanning tunneling (Scanning Tunneling Microscope), mikwoskòp fòs atomik gen pi laj aplikab paske li ka obsève echantiyon ki pa kondiktif. Mikwoskòp fòs optik la, ki lajman itilize nan rechèch syantifik ak endistri, baze sou mikwoskòp fòs atomik la.
3. Scanning tunneling mikwoskòp
① Segondè rezolisyon Scanning tunneling mikroskòp gen rezolisyon espasyal nan nivo atomik, rezolisyon espasyal lateral li se 1, ak rezolisyon longitudinal li se 0.1.
② Mikwoskòp tinèl optik la ka dirèkteman detekte estrikti sifas echantiyon an, epi li ka trase yon imaj estrikti ki genyen twa dimansyon.
③ Scanning mikwoskòp tinèl ka detekte estrikti nan matyè nan vakyòm, presyon atmosferik, lè, e menm solisyon. Depi pa gen okenn gwo enèji gwo reyon elèktron, pa gen okenn efè destriktif sou sifas la (tankou radyasyon, domaj chalè, elatriye), kidonk li ka etidye estrikti nan makromolekil byolojik ak sifas manbràn selil k ap viv anba kondisyon fizyolojik, ak la. echantiyon yo pa pral domaje epi yo rete entak.
④ Vitès optik mikwoskòp tinèl optik la rapid, tan pou jwenn done kout, epi imaj la tou rapid, kidonk li posib pou fè rechèch dinamik sou pwosesis lavi yo.
⑤ Li pa bezwen okenn lantiy epi li piti nan gwosè. Gen kèk moun ki rele li "mikwoskòp pòch".
