Èske mwen ta dwe achte yon mikwoskòp mache dwat oswa inverse?
Mikwoskòp metalografik, ke yo rele tou mikwoskòp materyèl, se sitou itilize yo obsève estrikti a nan estrikti metal. Li kapab divize an mikwoskòp metalografik mache dwat ak mikwoskòp metalografik Envèse
Mikwoskòp la mache dwat devan Bondye pwodui yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki pote gwo konvenyans nan obsèvasyon itilizatè a ak idantifikasyon. Anplis de sa nan analize ak idantifye echantiyon metal ak yon wotè nan 20-30 mm, li se pi lajman itilize pou transparan, semi transparan oswa sibstans ki sou opak akòz konfòmite li yo ak abitid moun chak jou. Obsève objektif pi gwo pase 3 mikron men pi piti pase 20 mikron, tankou seramik metal, bato elektwonik, sikwi enprime, substrats LCD, fim, fib, objè granulaire, penti, ak lòt materyèl, ka reyalize efè bon D 'pou estrikti sifas yo ak tras. Anplis de sa, ka sistèm nan kamera ekstèn dwe fasil konekte nan ekran an videyo ak òdinatè pou an tan reyèl ak obsèvasyon imaj dinamik, ekonomize ak koreksyon, enprime, ak konbine avèk lojisyèl divès kalite satisfè bezwen yo nan plis metalografik pwofesyonèl, mezi, ak jaden ansèyman entèaktif. Envèse mikwoskòp metalografik itilize optik avyon D 'yo idantifye ak analize mikrostruktur la nan metal ak divès kalite alyaj. Li se yon zouti enpòtan pou etidye metalografi nan fizik metal epi yo ka lajman itilize nan faktori oswa laboratwa pou depoze bon jan kalite, enspeksyon materyèl anvan tout koreksyon, oswa rechèch ak analiz de estrikti materyèl metalografik apre tretman pwosesis. Li bay rezilta analiz entwisyon ak se yon ekipman kle pou idantifikasyon bon jan kalite ak analiz de Distribisyon, fondri, ak tretman chalè nan min, metaliji, manifakti, ak endistri pwosesis mekanik.
Nan dènye ane yo, akòz bezwen an pou teknoloji segondè mikwoskopi planè sipòte pwodiksyon chip nan endistri a mikroelectronics, mikwoskòp metalografik yo te prezante ak kontinyèlman amelyore satisfè bezwen espesyal nan endistri an. Envèse mikwoskòp metalografik, kòm sifas la obsèvasyon nan echantiyon an konyenside avèk sifas la nan worktable a, se objektif la obsèvasyon ki sitiye anba a worktable la ak obsève egal. Fòm sa a obsèvasyon pa limite pa wotè nan echantiyon an, fasil yo sèvi ak, kontra enfòmèl ant nan estrikti enstriman, bèl ak jenere nan aparans. Baz mikwoskòp metalografik Envèse a gen yon gwo zòn sipò ak yon sant gravite ki ba, ki se ki estab ak serye. Se sifas la okulèr ak sipò panche nan 45 degre, fè obsèvasyon konfòtab.
