Plizyè pwoblèm nan itilizasyon mikwoskòp kontras faz:
(1) Faz lanvè lè n '
(2) Efè Halo ak gradyèl gradyèl nan pwosesis D 'mikwoskospi kontras faz, lè yon estrikti vin pi fonse akòz reta faz, se pa yon pèt limyè, men yon rezilta nan répartition limyè sou avyon an imaj. Se poutèt sa, limyè ki klèman disparèt nan zòn ki fè nwa yo pral parèt kòm yon halo klere alantou objè ki pi fonse. Sa a se yon dezavantaj nan mikwoskospi kontras faz, ki anpeche obsèvasyon nan estrikti amann. Lè ouvèti annulaire a trè etwat, fenomèn Halo a pi grav. Yon lòt fenomèn nan mikwoskopi kontras faz se efè a gradyasyon, ki refere a yon diminisyon nan kontras nan bor yo nan yon zòn ki pi gwo ak menm reta faz obsève pandan obsèvasyon kontras faz.
(3) Enfliyans epesè echantiyon an Lè w obsève diferans lan, epesè echantiyon an ta dwe 5 μ m oswa pi mens. Lè w ap itilize echantiyon pi epè, kouch siperyè echantiyon an klè, pandan y ap kouch ki pi fon an twoub epi pwodui entèferans chanjman faz ak entèferans gaye limyè.
(4) Enfliyans kouvèti vè ak glise sou echantiyon an dwe kouvri ak yon vè kouvèti, otreman bag klere nan Ouverture annulaire a ak bag nwa plak faz la difisil pou sipèpoze. Obsèvasyon diferans tou gen kondisyon segondè pou bon jan kalite a nan glas la nan glise a ak kouvri glas. Lè gen reyur, epesè inegal, oswa inegalite inegal, li ka lakòz deformation nan bag la klere ak entèferans faz. Anplis de sa, si glise an vè a twò epè oswa twò mens, li pral lakòz ouvèti a annulaire vin pi gwo oswa pi piti.
Kounye a, mikwoskòp optik yo te evolye soti nan mikwoskòp byolojik tradisyonèl nan divès kalite mikwoskòp espesyalize. Dapre prensip imaj yo, yo ka divize an:
① Jeyometrik mikwoskòp optik: ki gen ladan mikwoskòp byolojik, mikwoskòp limyè tonbe, mikwoskòp Envèse, mikwoskòp metalografik, mikwoskòp jaden nwa, elatriye.
② Mikwoskòp optik fizik: ki gen ladan mikwoskòp kontras faz, mikwoskòp polarizasyon, mikwoskòp entèferans, mikwoskòp polarizasyon kontras faz, mikwoskòp entèferans kontras faz, mikwoskòp fluoresans faz kontras, elatriye.
③ Mikwoskòp konvèsyon enfòmasyon: ki gen ladan mikwoskòp fluoresans, mikwospètromèt, mikwoskòp analiz imaj, mikwoskòp acoustic, mikwoskòp fotografi, mikwoskòp televizyon, elatriye.
Lis plizyè itilizasyon mikwoskòp: a Mikwoskòp byolojik: An jeneral, mikwoskòp yo ka divize an mikwoskòp stereo ak mikwoskòp byolojik. Akòz diferan rezon ak kondisyon, anpil branch te parèt, men prensip debaz yo rete menm jan an. Polarizasyon, kontras faz, transmisyon, ak limyè tonbe toujou klase kòm mikwoskòp byolojik. Mikwoskòp estereyoskopik, ke yo rele tou mikwoskòp anatomik, mikwoskòp solid, ak mikwoskòp stereo, se yon mikwoskòp versatile. Li fasil pou opere, gen kondisyon ki ba pou espesimèn, gen yon distans k ap travay long, e li gen yon sans fò nan twa dimansyon lè obsève. Li ka itilize pou obsève objè fizik oswa fè kèk operasyon sou espesimèn pandan y ap obsève. Olye pou yo koupe echantiyon an tankou yon mikwoskòp byolojik, tranche mande pou teknoloji korespondan ak ekipman. Se poutèt sa, mikwoskòp stereo gen yon pakèt aplikasyon nan domèn tankou mikwo-elektwonik, asanble ak antretyen enstriman presizyon, ak mikwo engraving. Lajman itilize nan anatomi ak mikrochiriji nan domèn byoloji ak medikaman (aktyèlman klase kòm mikwoskòp chirijikal), sous limyè yo itilize nan byoloji ak medikaman kapab sèlman yon sous limyè frèt (fib optik); Itilize nan endistri pou obsèvasyon, asanble, enspeksyon, ak lòt travay nan ti pati ak sikui entegre. Mikwoskòp metalografik: Anpil moun renmen ekri li kòm "mikwoskòp metalografik". Mikwoskòp metalografik se yon mikwoskòp ki itilize espesyalman pou obsève estrikti metalografik objè opak tankou metal ak mineral. Objè opak sa yo pa ka obsève nan yon mikwoskòp transmisyon regilye, kidonk diferans prensipal ant yo ak yon mikwoskòp regilye se ke ansyen an sèvi ak limyè reflete, pandan y ap lèt la sèvi ak limyè transmèt pou ekleraj. Nan yon mikwoskòp metalografik, gwo bout bwa ekleraj la dirije soti nan lantiy objektif la nan sifas objè a obsève, reflete pa sifas la, epi li retounen nan lantiy objektif la pou D. Sa a se metòd ekleraj meditativ tou lajman ki itilize nan deteksyon an nan sikwi entegre Silisyòm wafers.
