Achte yon mikwoskòp dwat oswa yon mikwoskòp Envèse?
Imaj mikwoskòp metalografik dwat yo kòm yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki pote gwo konvenyans nan obsèvasyon ak idantifikasyon itilizatè a. Anplis analize ak idantifye echantiyon metal ak yon wotè 20-30mm, li pi lajman itilize nan sibstans transparan, semi transparan, oswa opak akòz konfòmite li ak abitid moun chak jou. Obsève objè ki pi gwo pase 3 mikron men ki pi piti pase 20 mikron, tankou seramik metal, chips elektwonik, sikui enprime, substra LCD, fim mens, fib, objè granulaire, kouch, ak lòt materyèl, ka gen bon efè D sou estrikti sifas yo ak tras.
Anplis de sa, sistèm fotografi ekstèn lan ka fasilman konekte ekran videyo a ak òdinatè pou obsèvasyon imaj an tan reyèl ak estatik, depo, koreksyon, enprime, ak divès kalite lojisyèl satisfè bezwen yo nan metalografi plis pwofesyonèl, mezi, ak jaden ansèyman entèaktif. Envèse mikwoskòp metalografik sèvi ak metòd imaj optik avyon pou idantifye ak analize mikwostrikti divès kalite metal ak alyaj. Li se yon zouti enpòtan pou etidye metalografi nan fizik metal epi li ka lajman itilize nan faktori oswa laboratwa pou bon jan kalite Distribisyon, enspeksyon materyèl bwit, oswa rechèch ak analiz nan estrikti metalografi materyèl apre pwosesis pwosesis, bay rezilta analiz entwisyon. Li se yon zouti Distribisyon nan min, metaliji, fabrikasyon, ak endistri pwosesis mekanik Ekipman kle pou bon jan kalite evalyasyon ak analiz de fusion ak tretman chalè. Nan dènye ane yo, akòz nesesite pou gwo mikwoskòp planar teknoloji pou sipòte pwodiksyon chip nan endistri mikwo-elektwonik, mikwoskòp metalografik yo te prezante nan jaden sa a epi yo te kontinyèlman amelyore satisfè bezwen espesyal endistri a. Envèse mikwoskòp metalografik, akòz lefèt ke sifas obsèvasyon echantiyon an konyenside ak sifas workbench la, ak objektif obsèvasyon an sitiye anba workbench la pou obsèvasyon anlè, fòm obsèvasyon sa a pa limite pa wotè echantiyon an, ak se pratik pou itilize. Estrikti enstriman an se kontra enfòmèl ant, ak aparans la se bèl ak elegant. Baz mikwoskòp metalografik envèse a gen yon gwo zòn sipò, yon sant gravite ki ba, epi li an sekirite, ki estab ak serye. Oculaire a ak sifas sipò yo panche nan 45 degre, fè obsèvasyon konfòtab.
Anplis de seleksyon estanda konfigirasyon, mikwoskòp metalografik Envèse a gen fonksyon dirèk pwodiksyon imaj atravè amelyorasyon teknolojik, ki ka fasilman konekte òdinatè epi aplike lojisyèl pou pwosesis entèlijan selon kondisyon pwosesis. Senpleman mete, mete echantiyon an dwat anba a ak echantiyon an Envèse pi wo a. Objektif dwat la ap fè fas a anba, ak objektif envèse a ap fè fas a anwo. Sa vle di, lantiy la Envèse anba sèn nan, epi blòk tès la mete fas atè sou sèn nan. Nan moman sa a, lantiy la desann, epi blòk tès la ranvèse sou tèt. Lantiy la obsève sifas tès la depi anba rive anwo.
Lantiy dwat la mete sou sèn nan, ak blòk tès la fè fas a anwo. Nan pwen sa a, lantiy la sou tèt, blòk tès la dwat, ak lantiy la obsève sifas tès la depi anwo jouk anba.
Apre w fin chwazi yon sèten kalite mikwoskòp ki baze sou echantiyon an, konsidere si yo chwazi yon mikwoskòp dwat oswa yon mikwoskòp Envèse ka fondamantalman refere a pwen ki anwo yo. An menm tan an, ou bezwen konsidere tou kondisyon preparasyon echantiyon ou yo, paske mikwoskòp dwat yo gen pi wo kondisyon pou preparasyon echantiyon, pandan y ap mikwoskòp Envèse gen kondisyon relativman pi ba.