Prensip ak estrikti nan mikwoskòp sonde Scanning
Prensip debaz k ap travay nan mikwoskospi ankèt Scanning se sèvi ak entèraksyon ki genyen ant pwofonde a ak atòm yo ak molekil sou sifas echantiyon an, se sa ki, lè pwofonde a ak sifas echantiyon an tou pre echèl nanomèt la, jaden fizik divès kalite entèraksyon yo se. fòme, epi mòfoloji sifas echantiyon an jwenn lè w mezire kantite fizik ki koresponn yo. Mikwoskopi ankèt la konsiste de sond, eskanè, Capteur deplasman, kontwolè, sistèm deteksyon ak sistèm imaj.
Kontwolè a deplase echantiyon an nan yon direksyon vètikal atravè yon eskanè pou estabilize distans la (oswa kantite fizik entèraksyon) ant pwofonde a ak echantiyon an nan yon valè fiks; Ansanm deplase echantiyon an nan plan orizontal xy a, pou sond la analize sifas echantiyon an sou chemen an optik. Mikwoskopi ankèt Scanning la detekte siyal kantite fizik ki enpòtan nan entèraksyon ki genyen ant pwofonde a ak echantiyon an lè distans ki genyen ant pwofonde a ak echantiyon an estab; Anba kondisyon ki estab kantite fizik entèraksyon, distans ki genyen ant sond la ak echantiyon an detekte pa yon Capteur deplasman vètikal. Sistèm imaj la fè pwosesis imaj sou sifas echantiyon an ki baze sou siyal deteksyon an (oswa distans ki genyen ant pwofonde a ak echantiyon an).
Dapre diferan domèn fizik entèraksyon ki genyen ant pwofonde ak echantiyon an, mikwoskòp ankèt la divize an diferan seri mikwoskòp. Pami yo, Scanning tunneling microscope (STM) ak mikwoskòp fòs atomik (AFM) yo se de mikwoskòp pwofonde eskanè souvan itilize. Mikwoskòp Tuning Scanning la detekte estrikti sifas echantiyon an lè li detekte aktyèl tinèl ant pwofonde a ak echantiyon mezire a. Mikwoskopi fòs atomik la detekte sifas echantiyon an lè li detekte deformation mikwo cantilever ki te koze pa fòs entèraksyon ant pwent an ak echantiyon an (ki ka atire oswa repouse) atravè Capteur deplasman fotoelektrik la.
