Prensip ak aplikasyon mikwoskòp elèktron Scanning
Konpare ak mikwoskospi optik ak mikwoskospi elektwonik transmisyon, mikwoskospi elektwonik optik gen karakteristik sa yo:
（1） Kapab dirèkteman obsève estrikti sifas echantiyon an, ak gwosè echantiyon jiska 120mm × 80mm × 50mm.
（2） Pwosesis preparasyon echantiyon an senp epi li pa mande pou koupe an tranch mens.
（3） Echantiyon an ka tradui ak vire toutotou nan twa dimansyon nan chanm echantiyon an, kidonk li ka obsève nan divès ang.
（4） Pwofondè jaden an gwo, ak imaj la rich nan sans ki genyen twa dimansyon. Pwofondè jaden mikwoskospi elektwonik optik se plizyè santèn fwa pi gwo pase mikwoskospi optik ak plizyè dizèn fwa pi gwo pase mikwoskospi elektwonik transmisyon.
（5） Ranje agrandisman imaj la se lajè, ak rezolisyon an tou relativman wo. Li ka agrandi soti nan dè dizèn a dè santèn de milye de fwa, epi li fondamantalman gen ladan seri anplifikasyon soti nan yon loup, mikwoskòp optik nan yon mikwoskòp elèktron transmisyon. Rezolisyon an se ant mikwoskòp optik ak mikwoskospi elektwonik transmisyon, rive jiska 3nm.
（6） Domaj ak kontaminasyon echantiyon an pa travès elèktron yo relativman piti.
（7） Pandan w ap obsève mòfoloji a, lòt siyal ki emèt nan echantiyon an ka itilize tou pou analiz konpozisyon mikwo zòn.
Estrikti ak prensip k ap travay nan optik mikwoskòp elèktron
（1） Estrikti 1. Tib glas
Barik lantiy la gen ladann yon zam elèktron, yon kondansasyon, yon objektif, ak yon sistèm optik. Fonksyon li se jenere yon gwo bout bwa elèktron trè byen (avèk yon dyamèt apeprè kèk nanomèt), epi fè eskanè gwo bout bwa elèktron sou sifas echantiyon an, pandan y ap ankouraje divès siyal.
2. Koleksyon siyal elektwonik ak sistèm pwosesis
Nan chanm echantiyon an, gwo bout bwa elèktron optik la reyaji ak echantiyon an pou jenere yon varyete siyal, ki gen ladan elektwon segondè, elèktron backscattered, radyografi, absòpsyon elèktron, Auger elèktron, elatriye. Pami siyal ki anwo yo, youn ki pi enpòtan an se Elektwon segondè, ki se elektwon ekstèn nan atòm echantiyon an eksite pa elèktron ensidan an, ki te pwodwi nan zòn nan plizyè nm a dè dizèn de nm anba sifas echantiyon an, ak pousantaj pwodiksyon li yo depann sitou sou mòfoloji ak konpozisyon echantiyon an. Anjeneral pale, imaj elektrik optik la refere a imaj elektwon Segondè a, ki se siyal elektwonik ki pi itil pou etidye mòfoloji sifas echantiyon yo. Sonde detektè a pou detekte elektwon segondè (figi 15 (2)) se yon scintillator. Lè elektwon an frape scintillator a, 1 jenere limyè ladan l. Photoconductor a transmèt limyè sa a nan tib Photomultiplier la, epi siyal optik la konvèti nan yon siyal aktyèl. Apre pre anplifikasyon ak anplifikasyon videyo, siyal aktyèl la konvèti nan yon siyal vòltaj, epi finalman voye nan kadriyaj la nan tib la foto.
