Optik mikwoskòp (OM) analiz
Prensip D 'nan yon mikwoskòp optik se sèvi ak limyè vizib iradyasyon sifas la nan yon echantiyon, sa ki lakòz simaye lokal oswa refleksyon yo fòme diferan diferansye. Sepandan, akòz longèdonn nan limyè vizib ke yo te kòm yon wo {{0} angstroms, li se natirèlman pi move a an tèm de rezolisyon (oswa diskriminasyon, rezolisyon, refere li a distans ki pi pre ant de pwen ki ka rezoud). Anba operasyon nòmal, akòz pousantaj la diskriminasyon vizyèl nan sèlman 0. Sepandan, jaden an de vi se aktyèlman pi gwo a nan mitan sistèm D 'divès kalite, ki endike ke obsèvasyon mikwoskòp optik ka toujou bay anpil done preliminè estriktirèl.
Machin
Aplikasyon analiz
Manje a ak rezolisyon nan mikwoskòp optik, byenke kapab satisfè bezwen yo nan anpil obsèvasyon sifas materyèl, yo toujou lajman itilize nan aplikasyon pou divès kalite tankou:
Obsèvasyon estrikti kwa-rejyonal nan konpozan;
Analiz ak obsèvasyon nan estrikti planè reta;
Obsèvasyon nan zòn precipitant gratis pou presipite;
Obsèvasyon nan fil elektrik diferans ak sou étidyan grave;
Rechèch sou oksidasyon ranfòse anpile defo (OSF).
