Non ak fonksyon chak pati nan mikwoskòp konfokal la
Ki baze sou prensip teknoloji konfokal la, yo itilize mikwoskòp konfokal la pou mezire sifas divès kalite aparèy presizyon ak materyèl nan nivo mikwo ak nano, epi li ka dirèkteman imaj mòfoloji sifas echantiyon materyèl yo, ak yon rezolisyon lateral ki rive jiska 1 nm. ak yon rezolisyon aks Z ki rive jiska 0.5 nm. Li pa ka sèlman mezire mòfoloji sifas echantiyon an epi bay fonksyon pou karakterize mòfoloji mikwoskopik mezi gwosè pwofil la, men tou, bay senk gwo fonksyon analyse, tankou analiz brutality, analiz jeyometrik pwofil, analiz estriktirèl, analiz frekans ak fonksyonèl. analiz. Yo bay tou analiz brutality, analiz pwofil jewometrik, analiz estriktirèl, analiz frekans, ak analiz fonksyonèl.
Analiz brutality gen ladan analiz plen-paramèt dapre ISO4287 brutality liy, ISO25178 sifas brutality, ISO12781 flatness, elatriye; analiz jeyometrik kontou gen ladan wotè etap, distans, ang, koube ak lòt mezi karakteristik ak evalyasyon dwat, wonn ak fòm tolerans; analiz estriktirèl gen ladan volim nan twou yo ak pwofondè depresyon an, elatriye; analiz frekans gen ladan direksyon grenn lan ak analiz spectre; analiz fonksyonèl gen ladan analiz direksyon ak spectre frekans; analiz frekans gen ladan analiz direksyon ak spectre frekans; ak analiz fonksyonèl disponib tou. Analiz frekans gen ladan direksyon teksti ak analiz spectre; Analiz fonksyonèl gen ladan paramèt SK ak paramèt volim.
Estrikti mikwoskòp konfokal sitou konsiste de: mikwoskòp, sous limyè lazè, aparèy optik, detektè, sistèm òdinatè (ki gen ladan akizisyon done, pwosesis, konvèsyon, lojisyèl aplikasyon), aparèy pwodiksyon imaj, aparèy optik ak sistèm konfokal.
Nan seramik, metal, semi-conducteurs, chips ak lòt materyèl syans ak pwodiksyon enspeksyon jaden, mikwoskòp konfokal gen yon pakèt aplikasyon. Mikwoskòp konfokal ki baze sou prensip mikwoskòp konfokal, optik ki pa kontak nan sifas aparèy la ak etablisman an nan imaj la sifas 3D, atravè lojisyèl an sistèm sou sifas la aparèy 3D imaj pwosesis done ak analiz, konsa tankou jwenn 2D a, 3D. paramèt reflete bon jan kalite a nan sifas la nan aparèy la, reyalize mòfoloji sifas aparèy la mezi 3D.
Ka lajman itilize nan semi-conducteurs manifakti ak anbalaj pwosesis enspeksyon, 3C ekran elektwonik vè ak pati presizyon li yo, pwosesis optik, mikwo-nano-materyèl fabrikasyon, pati otomobil, aparèy MEMS ak lòt endistri machin ultra-presizyon ak ayewospasyal, enstiti rechèch syantifik ak lòt jaden. Mezire ak analize pwofil sifas la, domaj sifas, mete ak chire, korozyon, plat, brutality, corrugation, clearance pò, wotè etap, deformation koube, pwosesis ak lòt karakteristik sifas nan divès kalite pwodwi, konpozan ak sifas materyèl.
