Entwodiksyon nan aplikasyon prensipal yo nan optik mikroskopi elektwonik
Mikwoskòp elektwonik eskanè se yon enstriman multifonksyonèl ak anpil pwopriyete siperyè e li se youn nan enstriman ki pi lajman itilize, ki ka fè analiz debaz sa yo:
(1) Obsèvasyon ak analiz mòfoloji ki genyen twa dimansyon;
(2) Analiz konpozisyon mikwo-rejyon yo pandan y ap obsève mòfoloji.
(1) Obsèvasyon nanomateryèl yo. Nanomateryèl sa yo rele yo se materyèl solid ke yo jwenn nan bòdi presyon anba kondisyon pou kenbe sifas la pwòp lè gwosè a nan patikil yo oswa mikrokristal ki konpoze materyèl la se nan seri a nan 0.1 a 100 nm. Nanomateryèl yo gen anpil pwopriyete fizik-chimik inik ki diferan de sa yo ki nan eta cristalline ak amorphe. Nanomateryo gen yon gwo pwospè devlopman epi yo pral vin direksyon kle nan rechèch materyèl nan lavni. Yon karakteristik enpòtan nan optik mikwoskòp elektwon se rezolisyon segondè li yo, ki se kounye a lajman itilize yo obsève nanomateryèl.
② Pou fè analiz de ka zo kase materyèl. Yon lòt karakteristik enpòtan nan mikwoskòp elektwon optik la se gwo pwofondè nan jaden, imaj la se moun rich nan sans ki genyen twa dimansyon. Analize mikwoskòp elèktron pwofondè konsantre pase mikwoskòp elèktron transmisyon 10 fwa pi gwo pase mikwoskòp optik dè santèn de fwa. Kòm pwofondè imaj la nan jaden se gwo, se konsa imaj la optik elektwon rich nan sans ki genyen twa dimansyon, ak fòm ki genyen twa dimansyon, ka bay pi plis enfòmasyon pase lòt mikwoskòp, karakteristik sa a gen anpil valè pou itilizatè a. Mikwoskòp elèktron eskanè montre mòfoloji ka zo kase soti nan gwo twou san fon an, gwo pwofondè nan ang jaden prezante sans nan ka zo kase materyèl la, nan ansèyman, rechèch syantifik ak pwodiksyon, gen yon wòl iranplasabl nan analiz la nan kòz la nan ka zo kase materyèl la, analiz de la. kòz aksidan ak pwosesis rezonab se yon mwayen pwisan detèminasyon.
③ Obsèvasyon dirèk sifas orijinal yon gwo echantiyon. Li ka dirèkteman obsève echantiyon an ak yon dyamèt 100 mm, yon wotè 50 mm, oswa pi gwo gwosè, san okenn restriksyon sou fòm echantiyon an, ak sifas ki graj yo ka obsève tou, ki elimine pwoblèm nan prepare echantiyon, ak ka vrèman obsève echantiyon an tèt li kòm yon eleman materyèl nan pawa a diferan (imaj elèktron tounen-reflete).
④Obsèvasyon espesimèn epè. Lè w ap obsève espesimèn epè, li posib pou jwenn gwo rezolisyon ak aparans ki pi reyalis. Rezolisyon an nan mikwoskospi elektwonik optik se ant sa yo ki nan mikwoskospi optik ak mikwoskospi elektwonik transmisyon. Sepandan, lè w konpare obsèvasyon yon echantiyon epè, paske nan mikwoskòp elèktron transmisyon, li nesesè pou itilize metòd fim konpoze, ak rezolisyon fim konpoze an anjeneral sèlman 10 nm, epi obsèvasyon an se pa echantiyon an tèt li. , Se poutèt sa, li pi favorab yo obsève echantiyon an epè ak mikwoskòp elektwonik optik la jwenn enfòmasyon reyèl la nan sifas echantiyon an.
⑤ Obsève detay chak zòn echantiyon an. Espesimèn nan gen yon seri mobil trè gwo nan chanm echantiyon an. Distans travay lòt mikwoskòp yo anjeneral sèlman 2-3cm, kidonk echantiyon an gen dwa deplase sèlman nan de degre espas. Sepandan, nan mikwoskòp elektwon optik la diferan, paske distans k ap travay la gwo (kapab plis pase 20 mm), pwofondè fokal la gwo (10 fwa pi gwo pase mikwoskòp elèktron transmisyon), ak espas chanm echantiyon an tou. gwo, kidonk echantiyon an ka pèmèt yo gen sis degre nan libète mouvman nan twa degre nan espas (sa vle di, twa degre nan tradiksyon espas, twa degre nan wotasyon espas), ak seri a nan mouvman se gwo, ki se trè pratik pou obsèvasyon an nan espesimèn ki gen fòm iregilye nan detay yo nan rejyon yo divès kalite.
(vi) Obsèvasyon echantiyon yo anba gwo chan de vi ak agrandisman ki ba. Chan de vi pou obsève espesimèn ak yon mikwoskòp elektwon optik se gwo. Nan yon mikwoskòp elèktron, jaden vizyon F, ki pèmèt obsèvasyon similtane espesimèn yo, detèmine pa fòmil sa a: F=L/M [8].
Ki kote F - ranje jaden vizyon;
M - agrandisman obsèvasyon an;
L - gwosè ekran fliyoresan tib la.
Si mikwoskòp elektwon an optik lè l sèvi avèk yon tib 30 cm (12 pous), agrandisman 15 fwa, ranje jaden li yo jiska 20 mm. gwo jaden de vi, obsèvasyon agrandisman ki ba nan fòm echantiyon an nesesè pou kèk zòn, tankou ankèt kriminèl ak akeyoloji.
(7) Obsèvasyon kontinyèl soti nan gwo agrandisman ak agrandisman ki ba. Ranje agrandisman trè laj epi pa gen okenn bezwen konsantre souvan. Eskanè mikwoskòp elèktron mikwoskòp ranje trè laj (de 5 a 200, 000 fwa kontinyèlman reglabl), ak yon bon konsantre ka soti nan tan ki wo a ki ba, ki soti nan ki ba ak ki wo fwa kontinyèl obsèvasyon, san yo pa konsantre, ki se patikilyèman pratik pou analiz aksidan.
⑧ obsèvasyon espesimèn byolojik. Akòz iradyasyon elektwonik ak ensidan an nan echantiyon domaj ak kontaminasyon se piti anpil. Konparezon ak lòt mòd mikwoskospi elèktron, paske obsèvasyon ankèt elèktron yo itilize nan aktyèl la piti (anjeneral sou 10-10 ~ 10-12A) gwosè tach gwo bout bwa sond elèktron piti (anjeneral 5 nm a dis dizèn). nan nanomèt), enèji pwofonde elèktron tou relativman ti (akselere vòltaj ka piti tankou 2 kV), epi li se pa yon pwen fiks nan iradyasyon echantiyon an, men se yon metòd eskanè raster nan iradyasyon echantiyon an, Se poutèt sa, akòz to the Se poutèt sa, degre nan domaj ak kontaminasyon nan echantiyon an akòz iradyasyon elèktron piti anpil, ki se patikilyèman enpòtan pou obsèvasyon an nan kèk espesimèn byolojik.
