Entwodiksyon nan karakteristik mikwoskòp Scanning Probe
Scanning Probe Microscope (Scanning Probe Microscope, SPM) se mikwoskòp la optik tinèl ak nan mikwoskòp la optik tinèl sou baz devlopman nan yon varyete nouvo mikwoskòp pwofonde (mikwoskòp fòs atomik AFM, mikwoskòp fòs lazè LFM, mikwoskòp fòs mayetik MFM ak konsa sou) kolektivman, se devlopman entènasyonal la nan sifas la nan enstriman yo analyse nan dènye ane yo, se itilizasyon an konplè nan Optoelectronics teknoloji, teknoloji lazè, fèb siyal deteksyon teknoloji, presizyon mekanik konsepsyon ak pwosesis, teknoloji kontwòl otomatik, teknoloji dijital siyal pwosesis. , aplike teknoloji optik, òdinatè akizisyon ak kontwòl gwo vitès ak gwo rezolisyon teknoloji pwosesis grafik ak lòt reyalizasyon modèn syantifik ak teknolojik nan entegrasyon optik, mekanik ak elektrik nan pwodwi gwo teknoloji. Nouvo kalite zouti mikwoskopik sa a gen avantaj evidan konpare ak divès kalite mikwoskòp ak enstriman analyse nan tan lontan an:
1, SPM gen yon rezolisyon trè wo. Li ka fasilman "wè" atòm nan, ki se difisil yo rive jwenn mikwoskòp jeneral la e menm mikwoskòp elèktron.
2, SPM se yon an tan reyèl, reyèl echantiyon sifas-wo rezolisyon imaj, se reyèlman wè atòm la. Kontrèman ak kèk enstriman analyse, estrikti sifas echantiyon an dedwi pa metòd endirèk oswa enfòmatik.
3, SPM yo itilize nan yon anviwònman rilaks. Mikwoskòp elèktron ak lòt enstriman sou kondisyon anviwònman k ap travay nan plis mande, echantiyon an dwe mete nan yon kondisyon vakyòm segondè yo nan lòd yo teste. SPM ka travay nan vakyòm, men tou, nan atmosfè a, tanperati ki ba, tanperati chanm, tanperati ki wo, e menm nan solisyon. Se poutèt sa, SPM apwopriye pou eksperyans syantifik nan divès anviwònman k ap travay.
