Ki jan yo chwazi ant yon mikwoskòp metaliji ortogonal oswa envèse
Mikwoskòp metalografik, ke yo rele tou mikwoskòp materyèl, se sitou itilize yo obsève estrikti nan òganizasyon an metal, gen orthogonal lò ak pwen Envèse.
Orthogonal metalografik mikwoskòp D pou imaj la pozitif, ki pote gwo konvenyans nan obsèvasyon an ak idantifikasyon, ka 20-30mm wotè echantiyon metal la pou analiz la ak idantifikasyon, akòz abitid yo chak jou moun, se konsa pi lajman itilize nan sibstans transparan, translusid oswa opak. Pi gran pase 3 mikron mwens pase 20 mikron obsèvasyon objektif, tankou metal seramik, chips elektwonik, sikui enprime, LCD substrats, fim, fib, objè granulaire, plating ak lòt materyèl estrikti sifas, tras, ka gen yon efè D 'bon.
Envèse mikwoskòp metalografik sèvi ak metòd pou imaj optik avyon pou idantifye ak analize estrikti òganizasyonèl divès kalite metal ak alyaj, ki se yon zouti enpòtan pou rechèch metalografik nan fizik metal, epi yo ka lajman itilize nan faktori oswa laboratwa pou depoze bon jan kalite, matyè premyè. enspeksyon, oswa rechèch ak analiz travay sou òganizasyon metalografik nan materyèl yo apre tretman pwosesis la, konsa tankou bay rezilta analyse entwisyon, epi li se chwa ki pi bon pou min, metaliji, fabrikasyon, ak endistri pwosesis machin nan Li se kle a. ekipman pou idantifikasyon bon jan kalite ak analiz de Distribisyon, fusion ak tretman chalè nan min, metaliji, manifakti ak endistri pwosesis machin.
Envèse mikwoskòp metalografik, obsèvasyon echantiyon an fas anba ak sifas sipèpoze tab la, lantiy objektif obsèvasyon an sitiye anba tab travay la, obsèvasyon anwo, pa sijè a limit wotè echantiyon an, fasil pou itilize, enstriman an gen yon estrikti kontra enfòmèl ant, aparans la se bèl ak jenere, baz la gen yon pi gwo zòn sipò, sant gravite a pi ba, ** lis ak serye, se oculaire a ak sifas la sipòte panche nan 45 degre Sèlsiyis, obsèvasyon an nan yon konfòtab.
