Karakteristik nan mikwoskòp Sond Scanning
Mikwoskòp pwofonde optik se twazyèm mikwoskòp pou obsève estrikti matyè a nan echèl atomik la apre mikwoskòp iyon jaden ak mikwoskòp elektwonik transmisyon wo-rezolisyon. Lè w pran Scanning Tunneling Microscope (STM) kòm egzanp, rezolisyon lateral li se 0.1 ~ 0.2nm, ak rezolisyon pwofondè vètikal li se 0.01nm. Rezolisyon sa yo ka byen klè obsève atòm sèl oswa molekil distribiye sou sifas echantiyon an. An menm tan an, mikwoskòp pwofonde optik la kapab tou fè rechèch obsèvasyon nan lè, lòt gaz oswa anviwònman likid.
Mikwoskòp pwofonde eskane yo gen karakteristik rezolisyon atomik, transpò atomik ak nano-mikropwosesis. Sepandan, akòz diferan prensip k ap travay nan mikwoskòp optik divès kalite an detay, enfòmasyon ki sou sifas echantiyon an reflete pa rezilta yo jwenn yo trè diferan. Mikwoskopi tinèl eskanè mezire enfòmasyon distribisyon estasyon elèktron sou sifas echantiyon an, ki gen rezolisyon nivo atomik men li toujou pa ka jwenn estrikti vre echantiyon an. Mikwoskòp atomik la detekte enfòmasyon entèraksyon ant atòm yo, kidonk ka jwenn enfòmasyon aranjman distribisyon atomik sou sifas echantiyon an, se sa ki estrikti reyèl echantiyon an. Men, nan lòt men an, mikwoskòp fòs atomik la pa ka mezire enfòmasyon elektwonik eta a ki ka konpare ak teyori a, kidonk de a gen pwòp avantaj ak dezavantaj yo.
