èske w konnen klasifikasyon ak entwodiksyon detektè radyasyon endistriyèl CT?
(1) Endistriyèl CT detektè disrè
Gen de kalite prensipal detektè yo itilize nan CT endistriyèl - detektè diskrè ak detektè zòn. Gen de kalite X-ray detektè yo souvan itilize nan detektè disrè: gaz ak scintillation.
Detektè gaz gen karakteristik kolimasyon natirèl, ki limite enfliyans nan reyon gaye; gen prèske pa gen diafonis; ak aparèy la gen bon konsistans. Dezavantaj la se ke efikasite deteksyon an pa fasil pou amelyore, ak aplikasyon pou gwo enèji gen sèten limit; Dezyèmman, entèval inite deteksyon an se plizyè milimèt, ki twò gwo pou kèk aplikasyon.
Plis lajman itilize yo se detektè scintillation. Pati konvèsyon foto-elektrik nan detektè scintillation a kapab yon tib fotomultiplikatè oswa yon fotodyode. Ansyen an gen yon rapò siyal-a-bri ekselan, men paske nan gwosè a gwo aparèy, li difisil reyalize yon wo degre de entegrasyon, ak pri a se tou wo. Ki pi lajman itilize nan endistriyèl CT se konbinezon scintillator-photodiode.
Avantaj prensipal la nan detektè a disrè lè l sèvi avèk scintillator a se ke pwofondè nan scintillator a nan direksyon reyon an ka san limit, se konsa ke pi fò nan foton yo X fèk ap rantre yo kaptire ak efikasite deteksyon an amelyore. Espesyalman nan kondisyon ki gen gwo enèji, tan akizisyon an ka vin pi kout; paske scintillators yo endepandan, prèske pa gen okenn entèferans optik; an menm tan an, gen tengstèn oswa lòt espas metal lou ant scintillators yo, ki diminye entèferans radyografi a. Vitès lekti detektè disrè yo trè vit, sou lòd mikrosgond. An menm tan an, ka batman pwodiksyon akseleratè a dwe itilize pou pòtay done akizisyon, minimize bri a supèrpoze sou siyal la. Detektè diskrè yo tou pi piti sansib a domaj radyasyon.
Dezavantaj prensipal la nan detektè disrè se ke gwosè a pixel pa ka fè twò piti, ak entèval adjasan li yo (anplasman) se jeneralman pi gran pase 0.1mm; nplis de sa, pri a se tou pi chè.
(2) Detektè sifas endistriyèl CT
Gen twa kalite prensipal detektè zòn yo: chips semi-kondiktè segondè-rezolisyon, detektè panèl plat, ak entansifikatè imaj. Semiconductor chips yo plis divize an CCD ak CMOS. CCD a pa sansib pou radyografi, epi sifas la kouvri ak yon kouch scintillator pou konvèti radyografi nan limyè vizib ke CCD sansib pou.
Chip semi-conducteur a gen pi piti gwosè pixel ak pi gwo kantite inite deteksyon. Gwosè pixel la ka osi piti ke apeprè 10 mikron. Nimewo a nan inite deteksyon depann sou gwosè maksimòm Silisyòm kristal sèl, ak dyamèt la se jeneralman plis pase 50mm. Paske inite deteksyon an piti epi anplitid siyal la piti, plizyè inite deteksyon ka konbine pou ogmante siyal mezi a.
Yo nan lòd yo elaji zòn nan detektè efikas, yo ka optik makonnen ak yon scintillator gwo zòn ak lantiy oswa fib optik. Teyorikman, zòn efikas detektè a ka pwolonje nan nenpòt longè ki nesesè nan yon direksyon lè l sèvi avèk metòd la kouple fib. Teknoloji a nan itilize kouple optik kapab tou kenbe aparèy semi-conducteurs sa yo lwen radyasyon dirèk nan reyon X-ray pou fè pou evite domaj radyasyon.
Detektè panèl plat yo anjeneral te fè nan Silisyòm amorphe oswa Selenyòm amorphe kouvri ak kristal scintillation (tankou CsI) nan dè santèn de mikron. Gwosè pixel la se 127 oswa 200μm, ak gwosè panèl la * se sou 45cm (18in). Vitès lekti a se apeprè 3-7.5 ankadreman/s. Avantaj la se ke li se relativman senp yo sèvi ak epi pa gen okenn deformation imaj. Kalite imaj la se tou pre sa yo ki nan fotografi fim, epi li ka fondamantalman itilize kòm yon pwodwi ajou nan entansifikatè imaj la. Dezavantaj prensipal la se ke kristal la scintillation kouvri sou sifas la pa ka twò epè, ak efikasite nan deteksyon nan gwo enèji radyografi ba; li difisil pou rezoud pwoblèm nan gaye ak entèferans, ki diminye seri a dinamik. Pwoteksyon radyasyon nan sikui elektwonik pou aplikasyon enèji ki pi wo. Anjeneral pale, efè a nan lè l sèvi avèk enèji ki ba anba a 150kV se pi bon.
Entansifikatè imaj la se yon detektè zòn tradisyonèl, ki se yon aparèy vakyòm. Gwosè pixel nominal<100μm, diameter 152-457mm (6-18in). The readout speed can reach 15-30 frames/s, which is the fastest surface detector. Due to the inherent noise generated by statistical fluctuations in the image enhancement process, the image quality is relatively poor, and the general radiographic sensitivity is only 7-8%. In the case of data superposition using a computer, the radiographic sensitivity can be increased to more than 2%. Another disadvantage is that it is fragile and has image distortion. The basic advantage of area detectors is self-evident - it has a much higher ray utilization than line detectors. Surface detectors are also more suitable for 3D direct imaging. All surface detectors have common disadvantages due to structural reasons, that is, low ray detection efficiency; inability to limit scattering and interference; small dynamic range, etc. Higher energy ranges are less effective.
