Diferans nan Itilizasyon mikwoskòp metalografik Envèse ak mikwoskòp metalografik dwat
Envèse mikwoskòp metalografik se sitou apwopriye pou etidye ak analize mikwostrikti, bon jan kalite Distribisyon, ak estrikti faz nan divès kalite metal ak materyèl alyaj apre tretman chalè. Li se yon enstriman esansyèl pou rechèch métallurgique. Akòz lefèt ke sifas obsèvasyon echantiyon an pa limite pa wotè, sèlman yon sifas obsèvasyon bezwen plat lè w ap prepare echantiyon an. Se poutèt sa, li se lajman ki itilize nan laboratwa faktori, enstitisyon rechèch syantifik, ak inivèsite pou ansèyman. Lòt endistri tankou elektwonik, fim mens, ak kouch itilize materyèl frèt marketri pou fè echantiyon, ki dirèkteman ranvèse sou workbench la pou obsèvasyon fasil akòz transparans nan materyèl yo. Kamera a ka fasil konekte ak ekran videyo a ak òdinatè pou tan reyèl -obsèvasyon imaj dinamik, ekonomize ak koreksyon, enprime, ak konbine avèk divès kalite lojisyèl pou plis pwofesyonèl mezi metalografik.
Mikwoskòp metalografik dwat la gen menm fonksyon debaz ak mikwoskòp metalografi envèse a. Anplis analize ak idantifye echantiyon metal ak yon wotè 20-30mm, li pi lajman itilize pou sibstans transparan, semi transparan, oswa opak akòz konfòmite li ak abitid moun chak jou. Obsève objektif ki pi gwo pase 3 mikron men ki pi piti pase 20 mikron, tankou seramik metal, chips elektwonik, sikui enprime, substrat LCD, fim, fib, objè granulaire, kouch, ak lòt materyèl, ka reyalize bon efè D pou estrikti sifas yo ak tras. Sistèm kamera a ka byen fasil konekte nan ekran videyo a ak òdinatè pou obsèvasyon imaj an tan reyèl ak dinamik, ekonomize, koreksyon, enprime, ak divès kalite lojisyèl ka satisfè bezwen yo nan mezi metalografik plis pwofesyonèl ak ansèyman entèaktif.
