Diferans nan aplikasyon ant mikwoskòp mache dwat
Diferans ki genyen ant mache dwat ak inverse se tou senpleman ki se echantiyon an mache dwat yo mete anba a epi yo echantiyon an inverse mete pi wo a. Lantiy la objektif mache dwat ap fè fas a bès, ak lantiy la objektif Envèse ap fè fas a egal.
Se mikwoskòp metalografik inverse souvan itilize nan laboratwa faktori, enstitisyon rechèch syantifik, ak inivèsite paske sifas la obsèvasyon nan echantiyon an konyenside avèk sifas la nan worktable a, epi li se objektif la obsèvasyon ki sitiye anba a worktable a pandan y ap obsève egal. Fòm obsèvasyon sa a pa limite pa wotè echantiyon an, epi sèlman yon sèl sifas obsèvasyon an plat lè w ap prepare echantiyon an. Baz mikwoskòp metalografik Envèse a gen yon gwo zòn sipò, yon sant gravite ki ba, epi li estab ak serye. Se sifas la okulèr ak sipò panche nan 45 degre pou obsèvasyon konfòtab.
Mikwoskòp la metalografik dwat gen menm fonksyon debaz yo kòm mikwoskòp la metalografik Envèse. Anplis de sa nan analize ak idantifye echantiyon metal ak yon wotè nan 20-30 mm, li se pi lajman itilize pou transparan, semi transparan oswa sibstans ki sou opak paske li konfòm ak abitid moun chak jou. Mikwoskòp la metalografik mache dwat pwodui yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki anpil fasilite obsèvasyon itilizatè a ak idantifikasyon. Anplis de analize ak idantifye echantiyon metal ki gen yon wotè 20-30 mm, obsève objektif ki pi gwo pase 3 mikron ak pi piti pase 20 mikron, tankou seramik metal, bato elektwonik, sikwi enprime, lòt substrats, ka manje, yo ka fè manje, ak lòt bagay.
