Achte yon mikwoskòp dwat oswa Envèse
Mikwoskòp metalografik, ke yo rele tou mikwoskòp materyèl, se sitou itilize yo obsève estrikti nan tisi metal, ki ka divize an mikwoskòp metalografi dwat ak mikwoskòp metalografi envèse.
Mikwoskòp metalografik dwat la fòme yon imaj pozitif pandan obsèvasyon, ki pote gwo konvenyans nan obsèvasyon ak idantifikasyon itilizatè a. Anplis analiz ak idantifikasyon echantiyon metal yo ak yon wotè 20-30mm, li an liy ak abitid chak jou moun. , kidonk li se pi lajman itilize nan sibstans transparan, translusid oswa opak. Obsèvasyon objè ki pi gwo pase 3 mikron ak mwens pase 20 mikron, tankou cermets, chips elektwonik, sikui enprime, LCD substrats, fim, fib, objè granulaire, kouch ak lòt estrikti sifas materyèl ak tras, ka gen bon efè D. Anplis de sa, sistèm kamera ekstèn lan ka fasil konekte nan ekran videyo a ak òdinatè pou obsèvasyon imaj an tan reyèl ak estatik ak dinamik, depo, koreksyon, enprime, konbine avèk divès kalite lojisyèl satisfè bezwen yo nan metalografi plis pwofesyonèl, mezi, ak domèn ansèyman entèaktif. Envèse mikwoskòp metalografik sèvi ak metòd pou imaj optik avyon pou idantifye ak analize estrikti divès kalite metal ak alyaj. Li se yon zouti enpòtan pou rechèch metalografi nan metalografi. Li ka lajman itilize nan faktori oswa laboratwa pou depoze bon jan kalite ak enspeksyon matyè premyè. , oswa rechèch la ak analiz nan estrikti metalografik nan materyèl apre tretman pwosesis, konsa tankou bay rezilta analiz entwisyon, li se ekipman an kle pou idantifikasyon bon jan kalite ak analiz nan Distribisyon, SMELTING, ak tretman chalè nan min, metaliji, fabrikasyon, ak mekanik. endistri pwosesis.
Nan dènye ane yo, endistri mikwo-elektwonik la bezwen mikwoskospi planè gwo agrandisman pou sipòte pwodiksyon chip. Se poutèt sa, mikwoskòp metalografik yo te prezante nan jaden sa a pou pwomosyon ak itilizasyon, epi yo te kontinyèlman amelyore satisfè bezwen espesyal endistri a. Envèse mikwoskòp métallurgique, paske sifas obsèvasyon echantiyon an kowenside ak sifas workbench la anba, epi obsèvasyon objektif lantiy sitiye anba workbench la pou obsève anwo, fòm obsèvasyon sa a pa limite pa wotè echantiyon an, li fasil. pou itilize, enstriman an se kontra enfòmèl ant nan estrikti, ak bèl ak elegant, baz la nan mikwoskòp metalografik envèse a gen yon gwo zòn sipò, sant gravite a ba, ki estab ak serye, oculaire a ak sifas la sipò yo enkline nan 45 degre. , fè obsèvasyon konfòtab.
