Mikwoskòp fòs atomik ak aplikasyon li yo
Mikwoskòp fòs atomik se yon mikwoskòp pwofonde optik ki devlope apati prensip debaz mikwoskòp tinèl optik. Aparisyon nan mikwoskòp fòs atomik la te san dout jwe yon wòl nan pwomosyon devlopman nan nanoteknoloji. Mikwoskòp pwofonde optik ki reprezante pa mikwoskòp fòs atomik la se yon tèm jeneral pou yon seri mikwoskòp ki sèvi ak yon ti sond pou eskane sou sifas echantiyon an pou bay obsèvasyon gwo agrandisman. AFM eskanè ka bay enfòmasyon sou eta sifas divès kalite echantiyon. Konpare ak mikwoskòp konvansyonèl, avantaj nan mikwoskòp fòs atomik se ke li ka obsève sifas echantiyon an nan gwo agrandisman nan kondisyon atmosferik, epi li ka itilize pou prèske tout echantiyon (ak sèten kondisyon pou fini sifas), ak sifas echantiyon an ka jwenn san lòt preparasyon echantiyon. Imaj 3D nan . Li kapab tou fè kalkil brutality, epesè, lajè etap, dyagram blòk oswa analiz gwosè patikil sou imaj topografi 3D tcheke.
AFM ka detekte anpil echantiyon epi bay done pou rechèch sifas ak kontwòl pwodiksyon oswa devlopman pwosesis, ki pa ka bay pa mèt sifas konvansyonèl optik ak mikwoskòp elèktron.
Karakteristik nan mikwoskopi fòs atomik
1. Kapasite rezolisyon segondè depase sa yo ki nan mikwoskòp elèktron optik (SEM), ak mèt optik brutality. Done ki genyen twa dimansyon nan sifas echantiyon an satisfè kondisyon yo de pli zan pli mikwoskopik nan rechèch, pwodiksyon, ak enspeksyon kalite.
2. Ki pa destriktif, fòs entèraksyon ant pwofonde a ak sifas echantiyon an mwens pase 10-8N, ki se pi ba anpil pase presyon an nan mèt la brutality stylus anvan, kidonk li pa pral domaje echantiyon an, epi gen pa gen pwoblèm nan domaj gwo bout bwa elèktron nan mikwoskòp elektwon optik la. Anplis de sa, optik mikwoskospi elektwonik mande pou kouch echantiyon ki pa kondiktif, pandan y ap mikwoskòp fòs atomik pa fè sa.
3. Li ka itilize nan yon pakèt aplikasyon, tankou obsèvasyon sifas, mezi gwosè, mezi brutality sifas, analiz gwosè patikil, pwosesis estatistik nan protrusions ak twou, evalyasyon kondisyon fòmasyon fim, mezi etap pwoteksyon kouch gwosè, plat. evalyasyon fim izolasyon interlayer, evalyasyon kouch VCD, evalyasyon pwosesis tretman friksyon nan fim oryante, analiz defo, elatriye.
4. Lojisyèl la gen fonksyon pwosesis fò, ak gwosè twa dimansyon ekspozisyon imaj li yo, ang gade, koulè ekspozisyon, ak enteprete ka mete lib. Epi yo ka chwazi rezo, liy kontou, ekspozisyon liy. Macro jesyon nan pwosesis imaj, fòm kwa-seksyonèl ak analiz brutality, analiz topografi ak lòt fonksyon.
