Yon entwodiksyon nan karakteristik pèfòmans mikwoskòp elèktron
Gen divès kalite optik mikwoskòp elektwon, ak diferan kalite mikwoskòp optik gen diferan pèfòmans. Dapre kalite zam elèktron, li ka divize an twa kalite: zam elèktron emisyon jaden, zam fil tengstèn ak hexaboride lanthan [5]. Pami yo, mikwoskòp elèktron emisyon emisyon jaden yo ka divize an mikwoskospi elektwon emisyon emisyon frèt ak mikwoskospi elèktron emisyon tèrmik dapre pèfòmans sous limyè a. Mikwoskòp elèktron emisyon emisyon frèt la mande pou kondisyon vakyòm segondè, aktyèl gwo bout bwa a enstab, emèt la gen yon lavi sèvis kout, ak pwent zegwi a bezwen netwaye regilyèman, ki limite a yon sèl obsèvasyon imaj, ak seri aplikasyon an se limite; pandan y ap mikwoskòp elèktron emisyon emisyon tèmik jaden an pa sèlman kontinyèl Li ka travay pou yon tan long, epi li kapab tou konbine avèk yon varyete de Pwodwi pou Telefòn reyalize analiz konplè. Nan jaden an nan jeoloji, nou pa sèlman bezwen obsève mòfoloji a preliminè nan echantiyon an, men tou, bezwen analize lòt pwopriyete nan echantiyon an nan konbinezon ak analizè a, se konsa jaden an tèmik emisyon optik mikwoskòp elektwon pi lajman itilize.
Mikwoskòp elèktron eskanè (SEM) se yon gwo enstriman presizyon pou analiz mòfoloji mikwo-domèn wo rezolisyon. Li gen karakteristik gwo pwofondè nan jaden, rezolisyon segondè, imaj entwisyon, efè stereoskopik fò, ranje agrandisman lajè, ak echantiyon an yo dwe teste ka vire ak panche nan espas ki genyen twa dimansyon. Anplis de sa, li gen avantaj ki genyen nan yon gran varyete echantiyon mezirab, prèske pa gen okenn domaj ak kontaminasyon nan echantiyon orijinal la, ak akizisyon similtane nan mòfoloji, estrikti, konpozisyon, ak enfòmasyon kristalografik. Kounye a, mikwoskopi elektwonik optik te lajman itilize nan rechèch mikwoskopik nan domèn syans lavi, fizik, chimi, jistis, syans latè, syans materyèl, ak pwodiksyon endistriyèl. , Sedimantoloji, Geochemistry, Gemology, Micropaleontology, Astrogeology, lwil oliv ak gaz jewoloji, Jeni Jeoloji ak estriktirèl Jeoloji, elatriye.
Malgre ke mikwoskòp elektwon optik la se yon etwal k ap monte nan fanmi an mikwoskòp, akòz anpil avantaj li yo, vitès devlopman an trè vit.
1. Rezolisyon enstriman an se relativman wo, epi detay yo sou 6nm sou sifas echantiyon an ka obsève atravè imaj la elèktron segondè, ki ka amelyore plis nan 3nm lè l sèvi avèk yon zam elèktron LaB6.
2 Agrandisman enstriman an gen yon pakèt domèn epi yo ka kontinyèlman ajiste. Se poutèt sa, diferan jaden de vi ka chwazi pou obsèvasyon selon bezwen, epi an menm tan an, imaj klè ak klète segondè, ki difisil pou reyalize ak mikwoskòp elèktron transmisyon jeneral, ka jwenn tou anba gwo agrandisman.
3 Obsève echantiyon an gen yon gwo pwofondè nan jaden, yon gwo jaden de vi, ak imaj la plen ak twa dimansyon. Li ka dirèkteman obsève sifas ki graj la ak gwo ondulasyon ak imaj la ka zo kase metal inegal nan echantiyon an, ki fè moun santi yo tankou yo nan mond lan mikwoskopik.
4. Preparasyon echantiyon an senp. Osi lontan ke echantiyon an blòk oswa poud se yon ti kras trete oswa pa trete, li ka dirèkteman mete nan mikwoskòp elektwonik optik la pou obsèvasyon, kidonk li se pi pre eta natirèl la nan materyèl la.
5 Li ka efektivman kontwole ak amelyore kalite imaj la atravè metòd elektwonik, tankou antretyen otomatik nan klète ak kontras, echantiyon koreksyon ang enklinezon, wotasyon imaj, oswa amelyore tolerans nan kontras imaj atravè modulasyon Y, ak klète ak fènwa nan divès pati. nan imaj la modere. Sèvi ak yon aparèy agrandisman doub oswa yon seleksyon imaj, imaj ki gen diferan agrandisman ka obsève sou ekran an fliyoresan an menm tan an.
6 pou analiz konplè. Enstale yon espektwomèt radyografi dispèsyon longèdonn (WDX) oswa yon espektwomèt radyografi dispèsyon enèji (EDX) pou li gen fonksyon yon pwofonde elèktron epi li ka detekte tou elektwon reflete, reyon X, katodofluoresans, elektwon transmèt, elektwonik Auger. elatriye Pwolonje aplikasyon an nan mikwoskospi elektwonik optik nan divès metòd analiz mikwoskopik ak mikwo-zòn montre adaptabilite nan mikwoskospi elektwonik optik. Anplis de sa, li kapab tou analize mikwo-rejyon an si ou vle nan echantiyon an pandan y ap obsève imaj la topografi; enstale akseswar detantè echantiyon semi-conducteurs la, epi dirèkteman obsève PN junction ak defo mikwoskopik nan tranzistò a oswa sikwi entegre atravè anplifikatè imaj fòs elektwomobil la. Depi anpil optik mikwoskòp elektwonik sond elektwonik reyalize òdinatè elektwonik kontwòl otomatik ak semi-otomatik, vitès la nan analiz quantitative te amelyore anpil.
