Yon analiz kout sou prensip ak aplikasyon DIC nan mikwoskòp metalografik
Lè tout moun ap fè obsèvasyon mikwoskòp metalografik, gen yon metòd obsèvasyon ki rele metòd diferans diferans entèferans, ki rele tou metòd obsèvasyon DIC. Sa a se yon metòd relativman avanse ki kounye a sèlman itilize nan ekipman mak etranje yo. Prensip espesifik la se jan sa a: Prezante li.
Konpozan ki nesesè pou yon mikwoskòp metalografik: polarizè, analizeur, entèferans diferans DIC chip (ki fèt ak wòch glasye).
Polarizateur ak analizeur yo se eleman sipò debaz endispansab nan obsèvasyon limyè polarize orthogonal echantiyon metalografik. Yo reyini nan asanble ekleraj jaden klere / fè nwa epi yo tou eleman endispansab pou metòd diferans diferans entèferans. Polarizè a nan yon mikwoskòp metalografik chanje sous limyè a nan limyè lineyè polarize ki vibre nan direksyon lès-wès; analizeur a ka entèfere ak limyè aderan ki satisfè kondisyon yo entèferans.
Plak DIC entèferans diferans lan nan yon mikwoskòp metalografik se eleman debaz metòd diferans entèferans diferans lan. Epesè li chanje yon ti kras, sa ki lakòz ti chanjman nan chemen an optik oswa diferans nan chemen optik, epi li pwodui yon efè kontras entèferans evidan;
Aplikasyon nan fèy DIC entèferans diferans nan mikwoskòp metalografik:
Obsève patikil yo, fant, twou ak bulges sou sifas objè a, ki parèt an soulajman, epi ou ka fè jijman kòrèk.
Kondisyon sifas kèk pyès yo redwi. Osi lontan ke polisaj pa mande pou korozyon, ka soulajman transfòmasyon faz nan martensite ka wè.
Obsève kèk chanjman patikil sifas, tankou obsèvasyon ion kondiktif, elatriye.
Atravè eksplikasyon ki pi wo a, mwen kwè tout moun gen yon sèten konpreyansyon sou prensip la ak aplikasyon diferan fèy DIC entèferans nan mikwoskòp metalografik.
